-
Panel data econometricsArellano, Manuel, Prof.Vrsta gradiva - strokovna monografija ; neleposlovje za odrasleZaložništvo in izdelava - Oxford (UK) ; New York : Oxford University Press, 2003Jezik - angleškiISBN - 0-19-924529-0; 0-19-924528-2COBISS.SI-ID - 512359025
Avtor
Arellano, Manuel, Prof.
Teme
Econometrics |
Panel analysis |
Autoregressive moving-average |
Ekonometrijski modeli |
Heterogeni modeli |
Statika |
Študije |
Ekonometrijski modeli |
Komponente |
Slučajne spremenljivke |
Študije |
Ekonometrijski modeli |
Generalizacija |
Estimacija |
Študije |
ekonometrija |
napake |
spremenljivke |
časovne vrste |
matematični modeli |
simulacijski modeli |
regresijske analize |
dinamični modeli |
optimizacija
![loading ... loading ...](themes/default/img/ajax-loading.gif)
Knjižnica | Signatura – lokacija, inventarna št. ... | Status izvoda |
---|---|---|
Ekonomsko-poslovna fakulteta, Maribor | 330.4 ARELLANO M. Panel |
izposojeno - na dom, rok vrnitve: 31.07.2024
Predvidoma na voljo po: 16.08.2024 (1. v čakalni vrsti) |
![loading ... loading ...](themes/default/img/ajax-loading.gif)
![loading ... loading ...](themes/default/img/ajax-loading.gif)
![loading ... loading ...](themes/default/img/ajax-loading.gif)
Vnos na polico
Trajna povezava
- URL:
Faktor vpliva
Dostop do baze podatkov JCR je dovoljen samo uporabnikom iz Slovenije. Vaš trenutni IP-naslov ni na seznamu dovoljenih za dostop, zato je potrebna avtentikacija z ustreznim računom AAI.
Leto | Faktor vpliva | Izdaja | Kategorija | Razvrstitev | ||||
---|---|---|---|---|---|---|---|---|
JCR | SNIP | JCR | SNIP | JCR | SNIP | JCR | SNIP |
Baze podatkov, v katerih je revija indeksirana
Ime baze podatkov | Področje | Leto |
---|
Povezave do osebnih bibliografij avtorjev | Povezave do podatkov o raziskovalcih v sistemu SICRIS |
---|---|
Arellano, Manuel, Prof. | ![]() |
Izberite prevzemno mesto:
Prevzem gradiva po pošti
Obvestilo
Gesla v Splošnem geslovniku COBISS
Izbira mesta prevzema
Mesto prevzema | Status gradiva | Rezervacija |
---|
Prosimo, počakajte trenutek.