NUK - logo
E-viri
Recenzirano Odprti dostop
  • Amplitude analysis of B + →...
    Akar, S.; Aslanides, E.; Bachmann, S.; Barlow, R. J.; Batozskaya, V.; Batsukh, B.; Beddow, J.; Bellee, V.; Birnkraut, A.; Blake, T.; Borghi, S.; Britton, T.; Burr, C.; Calvi, M.; Campana, P.; Campora Perez, D.; Carbone, A.; Carboni, G.; Cattaneo, M.; Chrzaszcz, M.; Ciezarek, G.; Collins, P.; Comerma-Montells, A.; Cook, A.; Corvo, M.; Currie, R.; De Aguiar Francisco, O.; Demmer, M.; Dijkstra, H.; Dovbnya, A.; Eidelman, S.; Ekelhof, R.; Fazzini, D.; Ferreira Rodrigues, F.; Fiorini, M.; Fiutowski, T.; Fleuret, F.; Fontana, M.; Gandelman, M.; Gao, Y.; Garrido, L.; Gaspar, C.; Gershon, T.; Ghez, Ph; Graciani Diaz, R.; Hadavizadeh, T.; Hicheur, A.; Hombach, C.; Hushchyn, M.; Johnson, D.; Kozeiha, M.; Kurek, K.; Lindner, R.; Linn, C.; Luo, H.; Malinin, A.; Manca, G.; Marin Benito, C.; Martinelli, M.; Matev, R.; Matteuzzi, C.; Molina Rodriguez, J.; Moron, J.; Mussini, M.; Nandakumar, R.; Nguyen, A. D.; Nguyen-Mau, C.; Oldeman, R.; Pappalardo, L. L.; Pastore, A.; Pepe Altarelli, M.; Pistone, A.; Plo Casasus, M.; Raven, G.; Reichert, S.; Schiller, M.; Schmelzer, T.; Schwemmer, R.; Serra, N.; Sestini, L.; Shcheglov, Y.; Silva de Oliveira, L.; Snoek, H.; Spradlin, P.; Stahl, M.; Stefkova, S.; Sutcliffe, W.; Topp-Joergensen, S.; Toriello, F.; Uwer, U.; Vernet, M.; Vesterinen, M.; Volkov, V.; Vorobyev, V.; Voß, C.; Wormser, G.; Wyllie, K.; Yuan, X.; Zheng, Y.; Zucchelli, S.

    Physical review. D, 01/2017, Letnik: 95, Številka: 1
    Journal Article