Pitters, F. M.; Beghin, D.; Postiau, N.; Vanden Bemden, M.; Damiao, D. De Jesus; Sznajder, A.; Ahmad, M.; Kapoor, A.; Gao, X.; Kovac, M.; Nandan, S.; Pata, J.; Veelken, C.; Tuominiemi, J.; Touquet, G.; Tsamalaidze, Z.; Feld, L.; Mukherjee, S.; Gallo, E.; Giraldi, A.; Lange, W.; Schütze, P.; Rieger, O.; Schwandt, J.; Tews, A.; Caspart, R.; Gottmann, A.; Koppenhöfer, R.; Seith, D.; Wassmer, M.; Manousakis-Katsikakis, A.; Horvath, D.; Dhingra, N.; Meena, M.; Zeinali, M.; Di Florio, A.; Siroli, G. P.; Di Mattia, A.; Benaglia, A.; Iorio, A. O. M.; Paolucci, P.; Zanetti, M.; Palla, F.; Del Re, D.; Demaria, N.; Monteno, M.; Kim, G. N.; Park, S. K.; Jeon, S.; Lee, J. S. H.; Mijuskovic, J.; Bastos, D.; Zarubin, A.; Selivanova, D.; Ovtin, I.; Álvarez, C. Ramón; Wickramage, N.; David, A.; Elliott-Peisert, A.; Forthomme, L.; Haranko, M.; Hegeman, J.; Kratochwil, N.; Lecoq, P.; Pitt, M.; Selvaggi, M.; Treille, D.; Nessi-Tedaldi, F.; Cheng, H.; Yalvac, M.; Brew, C.; Cooke, C.; Harder, K.; Linacre, J.; Colling, D.; Khan, A.; Demiragli, Z.; Yuan, S.; Hogan, J. M.; Lau, K. T.; Narain, M.; Haza, G.; Lander, R.; Valuev, V.; Chen, Y.; Berry, D.; Jayatilaka, B.; Maeshima, K.; Merkel, P.; Guerrero, D.; Adams, T.; Hofman, D. J.; King, J.; Wong, K.; Bloom, K.; Jones, M.; Li, W.; Ferbel, T.; Damgov, J.; Romeo, F.