NUK - logo
E-viri
  • Measurement of C P asymmetr...
    Aiola, S.; Artamonov, A.; Balagura, V.; Bay, A.; Bediaga, I.; Belavin, V.; Belous, K.; Ben-Haim, E.; Betancourt, C.; Bhasin, S.; Bhom, J.; Braun, S.; Calabrese, R.; Cali, S.; Carboni, G.; Carvalho Akiba, K.; Casais Vidal, A.; Chen, C.; Clemencic, M.; Cliff, H. V.; Coelho, J. A. B.; Corti, G.; Dalseno, J.; d’Argent, P.; dos Reis, A. C.; Egede, U.; Falabella, A.; Fazzini, D.; Féo, M.; Garcia Martin, L. M.; Garcia Moreno, P.; Garcia Plana, B.; Giovannetti, M.; Gizdov, K.; Gorelov, I. V.; Graverini, E.; Greeven, L. M.; Griffith, P.; Haimberger, J.; Hu, W.; Huang, W.; Idzik, M.; Klimaszewski, K.; Kopciewicz, P.; Koppenburg, P.; Kunde, G. J.; Li, H.; Li, L.; Liu, G.; Liu, H.; Liu, X.; Lucchesi, D.; Lukashenko, V.; Lupton, O.; Lusiani, A.; Malczewski, J. J.; Marin Benito, C.; Mattioli, K. R.; Mauricio, J.; McNulty, R.; Mead, J. V.; Morandin, M.; Muheim, F.; Murphy, C. H.; Nasteva, I.; Neri, I.; Niel, E. M.; Nikitin, N.; Olivares, M. E.; Onderwater, C. J. G.; Panshin, G.; Pappalardo, L. L.; Pellegrino, A.; Pepe Altarelli, M.; Perret, P.; Petrucci, S.; Piccini, M.; Rangel, M. S.; Rodrigues, A. B.; Ruiz Vidal, J.; Sanchez Gras, C.; Sarti, A.; Scantlebury Smead, L. G.; Shchemerov, I.; Smith, E.; Sun, Y.; Szymanski, M.; Traill, M.; Vieira, D.; Vitali, G.; Walsh, J.; Wang, M.; Wang, Y.; Williams, M.; Wormser, G.; Wyllie, K.; Xiao, D.; Yin, H.; Zhu, X.; Zhukov, V.

    Physical review. D, 08/2021, Letnik: 104, Številka: 3
    Journal Article