Validation of 64 Cu-ATSM damaging DNA via high-LET Auger electron emission

E-viri

PDF

Recenzirano

Validation of 64 Cu-ATSM damaging DNA via high-LET Auger electron emission

McMillan, Dayton D.; Maeda, Junko; Bell, Justin J.; Genet, Matthew D.; Phoonswadi, Garrett; Mann, Kelly A.; Kraft, Susan L.; Kitamura, Hisashi; Fujimori, Akira; Yoshii, Yukie; Furukawa, Takako; Fujibayashi, Yasuhisa; Kato, Takamitsu A.

Journal of radiation research, 09/2015, Letnik: 56, Številka: 5

Journal Article

Išči dalje

Avtor

Dostop do baze podatkov JCR je dovoljen samo uporabnikom iz Slovenije. Vaš trenutni IP-naslov ni na seznamu dovoljenih za dostop, zato je potrebna avtentikacija z ustreznim računom AAI.

Leto	Faktor vpliva		Izdaja		Kategorija		Razvrstitev
Leto	JCR	SNIP	JCR	SNIP	JCR	SNIP	JCR	SNIP

Povezave do osebnih bibliografij avtorjev	Povezave do podatkov o raziskovalcih v sistemu SICRIS

Vir: Osebne bibliografije in: SICRIS

Naloži sliko

Vnos na polico

Dodajanje gradiva na polico je uspelo.

Dodajanje gradiva na polico je spodletelo.

Dodajanje gradiva na polico ni bilo potrebno.

Trajna povezava

E-pošta

Faktor vpliva

Izberite knjižnično izkaznico:

Baze podatkov, v katerih je revija indeksirana

Citiranje

Tema