NUK - logo
E-viri
Celotno besedilo
Recenzirano Odprti dostop
  • Akgün, B.; Alison, J.; Dias de Almeida, P.G.; Alpana, A.; Alyari, M.; Aras, U.; Aspell, P.; Bakshi, A.; Barney, D.; Behera, P.; Besancon, M.; Braga, D.; Bryant, P.; Callier, S.; Chen, J.A.; Cipriani, M.; Day, E.; Demiragli, Z.; Demirbas, U.; Dincer, G.G.; Dragicevic, M.; Ershov, Yu; Extier, S.; Fahim, F.; Fedi, G.; Franzoni, G.; Gandhi, P.; Ramos Garcia, M.T.; Gastler, D.; Gerwig, H.; Gevin, O.; Gilbert, A.; Gilbert, W.; Grönroos, S.; Guilloux, F.; Gülmez, E.; Hakimi, A.; Hoff, J.; Hou, W.-S.; Hua, H.; Hussain, A.; Incandela, J.; Khan, F.A.; Koetz, K.; Krohn, M.; Kronheim, B.; Lai, Y.; Langford, J.; Lee, S.-W.; Levin, A.; Li, J.H.; Li, Y.Y.; Lipton, R.; Lobanov, A.; Mans, J.; Masterson, P.; David, A.; Coco Mendez, S.; Motta, J.; Nikitenko, A.; Noonan, D.; Ortez, W.; Ozegović, J.; Ozkorucuklu, S.; Pantaleo, F.; Papageorgakis, C.; Buchot Perraguin, A.; Popova, E.; Prvan, M.; Rohlf, J.; Romanteau, T.; Sarkar, T.; Shukla, R.; Silva, P.; Simkina, P.; Spencer, E.; Steen, A.; Strait, J.; Strobbe, N.; Sun, L.; Suryadevara, P.; Thaus, R.; Taylor, R.D.; Tekten, S.; Tiras, E.; Titov, M.; Tok, U.G.; Troska, J.; Undleeb, S.; Viazlo, O.; Vojinoviç, M.; Vojinovic, M.; Wang, C.; Wang, C.C.; Wang, D.; Wang, X.; Yeh, C.H.; Yohay, R.; Zehetner, P.; Zhang, Y.

    Journal of instrumentation, 08/2023, Letnik: 18, Številka: 8
    Journal Article