NUK - logo
E-viri
Celotno besedilo
Recenzirano Odprti dostop
  • Acar, B.; Akchurin, N.; Alhusseini, M.; An, S.; Beaujean, F.; Becheva, E.; Belloni, A.; Bilki, B.; Bloch, P.; Bodek, A.; Bonnemaison, A.; Bonomally, S.; Bower, N.; Buchot Perraguin, A.; Butler-Nalin, A.; Cappati, A.; Charitonidis, N.; Collura, G.; Couderc, F.; Dauncey, P.; Day, E.; Defranchis, M.M.; Dugad, S.; Dulucq, F.; Dutta, V.; Eckdahl, J.; Eno, S.C.; Extier, S.; Franzoni, G.; Freeman, J.; Ganjour, S.; Garcia-Bellido, A.; Geerebaert, Y.; Ghosh, S.; Gilbert, A.; Gilbert, W.; Gu, Y.; Guler, Y.; Gülmez, E.; Hammer, M.; Irshad, A.; Jheng, H.R.; Kalinin, A.; Kaminskiy, A.; Karneyeu, A.; Kaya, M.; Kim, S.; Koetz, K.; Köseyan, O.K.; Lee, M.Y.; Li, A.; Li, B.; Li, Y.Y.; Liao, H.; Linssen, L.; Lobanov, A.; Lupi, M.; Lysova, I.; Mandjavize, I.; Martinez, G.; Mengke, T.; Mohanty, G.B.; Morrissey, I.; Noonan, D.; Ozegović, J.; Paganis, E.; Pagenkopf, D.; Papageorgakis, C.; Parshook, J.; Paulini, M.; Petiot, P.; Quast, T.; Rubinov, P.; Sarkisla, M.A.; Schmitt, M.; Sicking, E.; Sirois, Y.; Sozbilir, U.; Spencer, E.; Su, J.W.; Sun, L.; Sunar Cerci, D.; Tan, C.L.; Thaus, R.; Tekten, S.; Thienpont, D.; Tsirou, A.; Virdee, T.; Wang, C.; Wang, Z.; Whitbeck, A.; Wu, H.y.; Yuan, C.; Yusuff, I.; Zacharopoulou, A.; Zamiatin, N.; Zenz, S.; Zghiche, A.; Zhang, J.; Zhang, Y.

    Journal of instrumentation, 05/2022, Letnik: 17, Številka: 5
    Journal Article