NUK - logo
E-viri
Celotno besedilo
Recenzirano Odprti dostop
  • Akgün, B.; Aras, U.; Aspell, P.; Bach, O.; Bakshi, A.; Banerjee, S.; Barney, D.; Behera, P.; Bergauer, T.; Bhattacharya, S.; Brondolin, E.; Bychkova, O.; Cankocak, K.; Cheng, K.Y.; Cipriani, M.; Čoko, D.; Cuba, E.; Davies, G.; Day, E.; Dumanoglu, I.; Edberg, T.K.; Elias, F.; Eno, S.C.; Fallon, C.; Fedi, G.; Ferragina, L.; Gandhi, P.; Gecse, Z.; Ghosh, S.; Göttlicher, P.; Grönroos, S.; Guo, J.; Hakimi, A.; Heering, A.; Hinton, N.; Hou, W.-S.; Kalipoliti, L.; Kao, Y.-W.; Kim, S.; Koetz, K.; Kolberg, T.; Köseyan, O.K.; Krawczyk, M.; Kuo, C.M.; Kuryatkov, V.; Landsberg, G.; Stahl Leiton, A.G.; Levin, A.; Li, Y.Y.; Liao, H.; Lincoln, D.; Lohezic, V.; Lu, S.; Magniette, F.; Mahjoub, A.; Malakhov, A.; Mandjavize, I.; Martens, S.; Matysek, M.; Mayekar, S.N.; Murthy, S.; Onel, Y.; Paganis, E.; Palmer, C.A.; Parshook, J.; Popova, E.; Prvan, M.; Rane, A.; Redjeb, W.; Revering, M.; Richard, F.; Rovere, M.; Rusack, R.; Saradhy, R.; Sarkisla, M.A.; Sauvan, J.B.; Schuwalow, S.; Strait, J.; Sukhov, E.; Sulak, L.; Sun, L.; de La Taille, C.; Tali, B.; Taylor, R.D.; Thaus, R.; Thienpont, D.; Tlisov, D.; Tok, U.G.; Kayis Topaksu, A.; Tsirou, A.; Vojinovic, M.; Wang, F.; Wang, X.; Yang, J.; H Yeh, C.; Yuan, C.; Yumiceva, F.; Yusuff, I.; Zacharopoulou, A.; Zamiatin, N.

    Journal of instrumentation, 08/2023, Letnik: 18, Številka: 8
    Journal Article