NUK - logo
E-viri
Celotno besedilo
Recenzirano
  • Precision Measurement of C ...
    Adinolfi, M.; Alfonso Albero, A.; Baptista de Souza Leite, J.; Batozskaya, V.; Beck, A.; Biesuz, N. V.; Bizzeti, A.; Bolognani, C. S.; Bolzonella, R.; Boyer, A.; Bradley, M. J.; Brossa Gonzalo, A.; Buonincontri, L.; Calefice, L.; Campana, P.; Carniti, P.; Chen, S.; Cruz Torres, M.; Dadabaev, S.; De Cian, M.; Decamp, D.; Donohoe, A. M.; Ely, S.; Escher, S.; Feo, M.; Ferrillo, M.; Fontana, M.; Frank, M.; Frau, G.; Gallas Torreira, A.; Garcia Rosales, F. A.; Giambastiani, L.; Gilman, A. L.; Gioventù, A.; Giza, M. A.; Gong, G.; Granado Cardoso, L. A.; Graugés, E.; Guseinov, A. K.; Haimberger, J.; Hu, J.; Jevtic, V.; Johnson, D.; Kharisova, A.; Kitouni, O.; Klimaszewski, K.; Lacarrere, D.; Lampis, A.; Landesa Gomez, C.; Li, Z.; Lin, T.; Lisovskyi, V.; Lobo Salvia, A.; Lopez Huertas, A.; Lynch, K.; Ma, R.; Malinin, A.; Marin Benito, C.; Mauricio, J.; McCann, M.; Miao, D.; Neubert, S.; Neufeld, N.; Nowak, G. N; Nunez, C.; Petruzzo, M.; Prouve, C.; Ribatti, R.; Ricci, A. M.; Rinnert, K.; Robbe, P.; Rodriguez Lopez, J. A.; Schindler, H.; Sergi, A.; Shapkin, M.; Shevchenko, V.; Solovev, A.; Song, R.; Spradlin, P.; Tan, Y.; Tilquin, H.; Tisserand, V.; Tobin, M.; Tuning, N.; Usachov, A.; Vagnoni, V.; Valenti, G.; Villa, A.; Wang, J.; Wang, Y.; Whitehead, M.; Williams, I.; Witek, M.; Witola, L.; Wu, H.; Wyllie, K.; Xu, Q.; Zavertyaev, M.; Zhou, T.; Zhu, X.

    Physical review letters, 10/2023, Letnik: 131, Številka: 17
    Journal Article