NUK - logo
E-viri
Recenzirano Odprti dostop
  • Measurement of Charge Asymm...
    Adeva, B.; Barber, D. P.; Becker, U.; Berdugo, J.; Berghoff, G.; Böhm, A.; Branson, J. G.; Burger, J. D.; Capell, M.; Cerrada, M.; Chang, C. C.; Chen, H. S.; Chen, M.; Chen, M. L.; Chen, M. Y.; Cheng, C. P.; Clare, R.; Deffur, E.; Duinker, P.; Feng, Z. Y.; Fesefeldt, H. S.; Fong, D.; Fukushima, M.; Harting, D.; Hebbeker, T.; Herten, G.; Ho, M. C.; Ilyas, M. M.; Jiang, D. Z.; Kooijman, D.; Krenz, W.; Li, Q. Z.; Luckey, D.; Luit, E. J.; Maña, C.; Massaro, G. G. G.; Matsuda, T.; Newman, H.; Pohl, M.; Poschmann, F. P.; Revol, J. P.; Rohde, M.; Rykaczewski, H.; Rubio, J. A.; Salicio, J.; Schulz, I.; Sinram, K.; Steuer, M.; Swider, G. M.; Tang, H. W.; Teuchert, D.; Ting, Samuel C. C.; Tung, K. L.; Vannucci, F.; Wang, M. Q.; White, M.; Wu, S. X.; Zhu, R. Y.; Zhu, Y. C.

    Physical review letters, 6/1982, Letnik: 48, Številka: 25
    Journal Article