NUK - logo
E-viri
  • Measurement of J / ψ and ψ ...
    Akimoto, H.; Akopian, A.; Amendolia, S. R.; Antos, J.; Apollinari, G.; Ashmanskas, W.; Barbaro-Galtieri, A.; Barnes, V. E.; Barone, M.; Bauer, G.; Benjamin, D.; Berge, J. P.; Blumenfeld, B.; Bokhari, W.; Bonushkin, Y.; Boudreau, J.; Brandl, A.; van den Brink, S.; Buckley-Geer, E.; Budagov, J.; Cassada, J.; Cerri, A.; Chan, A. W.; Chapman, J.; Ciobanu, C. I.; Cooper, J.; Culbertson, R.; Dagenhart, D.; Deninno, M.; Dittmann, J. R.; Donati, S.; Done, J.; Elias, J. E.; Field, R. D.; Foster, G. W.; Franklin, M.; Green, C.; Guimaraes da Costa, J.; Guo, R. S.; Hardman, A. D.; Hauser, J.; Hinrichsen, B.; Hughes, R.; Iwata, Y.; Jensen, H.; Jones, M.; Kasha, H.; Kikuchi, T.; Kim, B. J.; Kordas, K.; Kurino, K.; Latino, G.; Lewis, J. D.; Liu, J. B.; Lusin, S.; Mangano, M.; Martin, A.; Menzione, A.; Mesropian, C.; Murat, P.; Nelson, C.; Newman-Holmes, C.; Nodulman, L.; Nomerotski, A.; Olsen, J.; Paoletti, R.; Papadimitriou, V.; Patrick, J.; Phillips, T. J.; Piacentino, G.; Prokoshin, F.; Robertson, W. J.; Robinson, A.; Roser, R.; Savard, P.; Schlabach, P.; Scodellaro, L.; Shimojima, M.; Smith, C.; Snider, F. D.; Solodsky, A.; Spinella, F.; Stefanini, A.; Suzuki, T.; Takikawa, K.; Tanaka, M.; Tether, S.; Thurman-Keup, R.; Trischuk, W.; Tseng, J.; Velev, G.; Vilar, R.; Wagner, R. L.; Wahl, J.; Webb, R.; Wester, W. C.; Wicklund, A. B.; Worm, S.; Yoh, J.; Yoshida, T.

    Physical review letters, 10/2000, Letnik: 85, Številka: 14
    Journal Article