Akimoto, H.; Akopian, A.; Amendolia, S. R.; Antos, J.; Apollinari, G.; Ashmanskas, W.; Barbaro-Galtieri, A.; Barnes, V. E.; Barone, M.; Bauer, G.; Benjamin, D.; Berge, J. P.; Blumenfeld, B.; Bokhari, W.; Bonushkin, Y.; Boudreau, J.; Brandl, A.; van den Brink, S.; Buckley-Geer, E.; Budagov, J.; Cassada, J.; Chiarelli, G.; Ciobanu, C. I.; Cooper, J.; Culbertson, R.; Dagenhart, D.; Donati, S.; Done, J.; Elias, J. E.; Field, R. D.; Foster, G. W.; Franklin, M.; Gordon, A.; Groer, L.; Guimaraes da Costa, J.; Haber, C.; Hafen, E.; Hahn, S. R.; Hall, C.; Hardman, A. D.; Harris, R. M.; Hartmann, F.; Hoffman, K. D.; Hughes, R.; Introzzi, G.; James, E.; Kamon, T.; Kennedy, R. D.; Kephart, R.; Kirk, M.; Kim, D. H.; Kim, S. H.; Kirsch, L.; Köngeter, A.; Korn, A.; Korytov, A.; Kroll, J.; Kuhlmann, S. E.; Lami, S.; Lammel, S.; LeCompte, T.; Lockyer, N.; Loken, J.; Mayer, J.; Menguzzato, M.; Miao, T.; Mitselmakher, G.; Morita, Y.; Muller, T.; Niu, H.; Ohsugi, T.; Punzi, G.; Ragan, K.; Reher, D.; Rosenson, L.; Sakumoto, W. K.; Saltzberg, D.; Santi, L.; Sato, H.; Schmidt, E. E.; Scott, A.; Segler, S.; Seidel, S.; Semenov, A.; Shepard, P. F.; Spiropulu, M.; Spiegel, L.; Stuart, D.; Tecchio, M.; Toyoda, H.; Wallace, N. B.; Wang, C. H.; Wicklund, E.; Winer, B. L.; Wolbers, S.; Wolinski, D.; Wolinski, S.; Yao, W.; Yeh, P.; Yosef, C.