NUK - logo
E-viri
  • Experimental Constraints on...
    Abe, K.; Adachi, I.; Aihara, H.; Anipko, D.; Aulchenko, V.; Bakich, A. M.; Balagura, V.; Bedny, I.; Bitenc, U.; Bizjak, I.; Bračko, M.; Brodzicka, J.; Chang, M.-C.; Chen, A.; Chen, K.-F.; Chen, W. T.; Cheon, B. G.; Choi, Y.; Choi, Y. K.; Dalseno, J.; Drutskoy, A.; Eidelman, S.; Fratina, S.; Gabyshev, N.; Gershon, T.; Gokhroo, G.; Ha, H.; Haba, J.; Hayashii, H.; Hazumi, M.; Heffernan, D.; Hokuue, T.; Hoshi, Y.; Hou, S.; Hou, W.-S.; Ikado, K.; Imoto, A.; Inami, K.; Ishikawa, A.; Itoh, R.; Iwasaki, M.; Iwasaki, Y.; Kaji, H.; Kang, J. H.; Kapusta, P.; Katayama, N.; Khan, H. R.; Kichimi, H.; Kim, Y. J.; Korpar, S.; Križan, P.; Kuo, C. C.; Kuzmin, A.; Kwon, Y.-J.; Lee, J.; Lee, M. J.; Lesiak, T.; Liventsev, D.; Majumder, G.; Mandl, F.; Matyja, A.; Miyake, H.; Miyazaki, Y.; Nakao, M.; Natkaniec, Z.; Nishida, S.; Ohshima, T.; Okuno, S.; Onuki, Y.; Ozaki, H.; Park, K. S.; Peak, L. S.; Pestotnik, R.; Satoyama, N.; Schümann, J.; Seidl, R.; Senyo, K.; Sevior, M. E.; Shapkin, M.; Shibuya, H.; Somov, A.; Stanič, S.; Suzuki, S. Y.; Tamai, K.; Tanaka, M.; Taylor, G. N.; Teramoto, Y.; Tian, X. C.; Tsuboyama, T.; Tsukamoto, T.; Uehara, S.; Uno, S.; Urquijo, P.; Usov, Y.; Varner, G.; Villa, S.; Watanabe, Y.; Xie, Q. L.; Yamashita, Y.; Zhang, Z. P.

    Physical review letters, 06/2007, Letnik: 98, Številka: 26
    Journal Article