NUK - logo
E-viri
  • High Resolution Spectroscop...
    Miyoshi, T.; Sarsour, M.; Yuan, L.; Zhu, X.; Ahmidouch, A.; Ambrozewicz, P.; Androic, D.; Angelescu, T.; Asaturyan, R.; Avery, S.; Baker, O. K.; Bertovic, I.; Breuer, H.; Carlini, R.; Cha, J.; Chrien, R.; Christy, M.; Cole, L.; Danagoulian, S.; Dehnhard, D.; Elaasar, M.; Empl, A.; Ent, R.; Fenker, H.; Fujii, Y.; Furic, M.; Gan, L.; Garrow, K.; Gasparian, A.; Gueye, P.; Harvey, M.; Hashimoto, O.; Hinton, W.; Hu, B.; Hungerford, E.; Jackson, C.; Johnston, K.; Juengst, H.; Keppel, C.; Lan, K.; Liang, Y.; Likhachev, V. P.; Liu, J. H.; Mack, D.; Margaryan, A.; Markowitz, P.; Martoff, J.; Mkrtchyan, H.; Nakamura, S. N.; Petkovic, T.; Reinhold, J.; Roche, J.; Sato, Y.; Sawafta, R.; Simicevic, N.; Smith, G.; Stepanyan, S.; Tadevosyan, V.; Takahashi, T.; Tanida, K.; Tang, L.; Ukai, M.; Uzzle, A.; Vulcan, W.; Wells, S.; Wood, S.; Xu, G.; Yamaguchi, H.; Yan, C.

    Physical review letters, 6/2003, Letnik: 90, Številka: 23
    Journal Article