NUK - logo
E-viri
  • Erratum: Evolution of π 0 S...
    Akiba, Y.; Angerami, A.; Aramaki, Y.; Bai, M.; Barish, K. N.; Baumgart, S.; Berdnikov, Y.; Buesching, H.; Chi, C. Y.; Choi, I. J.; Choi, J. B.; Cianciolo, V.; Connors, M.; Daugherity, M. S.; Desmond, E. J.; Dietzsch, O.; Dion, A.; Durham, J. M.; D’Orazio, L.; Efremenko, Y. V.; Fadem, B.; Fusayasu, T.; Gal, C.; Garishvili, I.; Gong, X.; Grau, N.; Greene, S. V.; Grosse Perdekamp, M.; Guo, L.; Gustafsson, H.-Å.; Hahn, K. I.; He, X.; Hester, T.; Iinuma, H.; Issah, M.; Jiang, X.; Kaneti, S.; Kapustinsky, J.; Kempel, T.; Khanzadeev, A.; Kim, B. I.; Kim, H. J.; Kim, Y.-J.; Kiss, Á.; Kleinjan, D.; Komkov, B.; Koster, J.; Kurita, K.; Kwon, Y.; Lacey, R.; Lajoie, J. G.; Lee, J.; Leitch, M. J.; Leite, M. A. L.; Lewis, B.; Liu, M. X.; Love, B.; Maguire, C. F.; Makdisi, Y. I.; Makek, M.; McCumber, M.; McGlinchey, D.; Nagae, T.; Nagamiya, S.; Nagy, M. I.; Nakagawa, I.; Nakamura, K. R.; Nattrass, C.; Novitzky, N.; Nyanin, A. S.; Patel, L.; Petti, R.; Rak, J.; Riabov, Y.; Seto, R.; Shimomura, M.; Shukla, P.; Sickles, A.; Silvermyr, D.; Sim, K. S.; Singh, C. P.; Slunečka, M.; Sourikova, I. V.; Stepanov, M.; Ster, A.; Stoll, S. P.; Sukhanov, A.; Sziklai, J.; Tarafdar, S.; Tennant, E.; Themann, H.; Tomášek, M.; Tsuji, T.; Vazquez-Zambrano, E.; Virius, M.; Watanabe, D.; Watanabe, K.; White, S. N.; Yanovich, A.; You, Z.

    Physical review letters, 7/2020, Letnik: 125, Številka: 4
    Journal Article