NUK - logo
E-viri
Celotno besedilo
Recenzirano
  • Deeply Virtual Compton Scat...
    Georges, F.; Stefanko, A.; Dlamini, M.; Lin, P-J.; Ko, H-S; Ahmed, Z.; Albataineh, H.; Androic, D.; Aniol, K.; Annand, J.; Atac, H.; Ayerbe Gayoso, C.; Barcus, S.; Bartlett, K.; Beminiwattha, R.; Bericic, J.; Bulumulla, D.; Castellano, J.; Chen, J-P.; Chetry, T.; Christy, M. E.; Cisbani, E.; Clary, B.; Compton, N.; Covrig Dusa, S.; Crowe, B.; Danley, T.; De Persio, F.; Deconinck, W.; Di, D.; Duer, M.; Duran, B.; Ent, R.; Fanelli, C.; Franklin, G.; Gautam, T.; Glamazdin, O.; Gray, V. M.; Hamad, G.; Hamilton, K.; Hansen, O.; Hauenstein, F.; Higinbotham, D. W.; Holmstrom, T.; Huber, G. M.; Ibrahim, H.; Jen, C-M.; Jones, M.; Keppel, C.; King, P. M.; Li, W. B.; Liu, J.; Liu, H.; Liyanage, A.; Magee, J.; Malace, S.; Mammei, J.; Markowitz, P.; McClellan, E.; Mazouz, M.; Meddi, F.; Mesik, K.; Michaels, R.; Mkrtchyan, A.; Montgomery, R.; Myers, L. S.; Nadel-Turonski, P.; Nazeer, S. J.; Nelyubin, V.; Nguyen, D.; Nuruzzaman, N.; Nycz, M.; Obretch, O. F.; Ou, L.; Palatchi, C.; Park, S.; Peng, C.; Pomatsalyuk, R.; Puckett, A. J. R.; Quinn, B.; Rahman, S.; Sapkota, I.; Sawatzky, B.; Saylor, N. H.; Schmookler, B.; Shahinyan, A.; Sirca, S.; Sooriyaarachchilage, S.; Sparveris, N.; Spies, R.; Su, T.; Subedi, A.; Sun, A.; Thorne, L.; Ton, N.; Tortorici, F.; Waidyawansa, B.; Wang, Y.; Zhao, Y.; Zhu, P.

    Physical review letters, 06/2022, Letnik: 128, Številka: 25
    Journal Article