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Recenzirano
  • Atomic layer deposition of ...
    Lammel, M.; Scheffler, D.; Pohl, D.; Swekis, P.; Reitzig, S.; Piontek, S.; Reichlova, H.; Schlitz, R.; Geishendorf, K.; Siegl, L.; Rellinghaus, B.; Eng, L. M.; Nielsch, K.; Goennenwein, S. T. B.; Thomas, A.

    Physical review materials, 4/2022, Letnik: 6, Številka: 4
    Journal Article