NUK - logo
E-viri
Celotno besedilo
Recenzirano
  • Study of B + → p n ¯ π 0
    Lin, Y.-R.; Wang, M.-Z.; Adamczyk, K.; Al Said, S.; Atmacan, H.; Aushev, T.; Banerjee, Sw; Behera, P.; Bessner, M.; Bhardwaj, V.; Bonvicini, G.; Bozek, A.; Bračko, M.; Branchini, P.; Browder, T. E.; Budano, A.; Chang, M.-C.; Chang, P.; Chilikin, K.; De Nardo, G.; Dingfelder, J.; Ferber, T.; Ferlewicz, D.; Garmash, A.; Golob, B.; Hadjivasiliou, C.; Hayasaka, K.; Hayashii, H.; Hou, W.-S.; Ishikawa, A.; Iwasaki, M.; Jacobs, W. W.; Jin, Y.; Joo, K. K.; Kalita, D.; Kaliyar, A. B.; Kiesling, C.; Kim, C. H.; Kodyš, P.; Konno, T.; Korpar, S.; Krokovny, P.; Kumar, R.; Kuzmin, A.; Lee, S. C.; Li, Y. B.; Li Gioi, L.; Libby, J.; Lieret, K.; Liventsev, D.; Luo, T.; Matsuda, T.; Matvienko, D.; Merola, M.; Metzner, F.; Miyabayashi, K.; Mizuk, R.; Mohanty, G. B.; Nisar, N. K.; Nishida, S.; Onuki, Y.; Oskin, P.; Pakhlova, G.; Pardi, S.; Park, H.; Park, J.; Piilonen, L. E.; Podobnik, T.; Prencipe, E.; Prim, M. T.; Russo, G.; Sandilya, S.; Santelj, L.; Savinov, V.; Schnell, G.; Seino, Y.; Sevior, M. E.; Shapkin, M.; Sharma, C.; Shwartz, B.; Simon, F.; Stottler, Z. S.; Sumisawa, K.; Trabelsi, K.; Uglov, T.; Unno, Y.; Uno, S.; Urquijo, P.; Usov, Y.; Vahsen, S. E.; van Tonder, R.; Vinokurova, A.; Vossen, A.; Xu, X.; Yang, S. B.; Yin, J. H.; Yuan, C. Z.; Zhang, Z. P.; Zhilich, V.; Zhukova, V.

    Physical review. D, 12/2023, Letnik: 108, Številka: 11
    Journal Article