NUK - logo
E-viri
Celotno besedilo
Recenzirano
  • Search for C P violation us...
    Adinolfi, M.; Amey, J. L.; Aslanides, E.; Barlow, R. J.; Bediaga, I. B.; Bhom, J.; Bizzeti, A.; Borsato, M.; Burr, C.; Byczynski, W.; Campana, P.; Campora Perez, D. H.; Capelli, S.; Carboni, G.; Cervenkov, D.; Ciullo, G.; Closier, J.; Coco, V.; Cojocariu, L.; Congedo, L.; Contu, A.; Coombs, G.; Corredoira, I.; Dall’Occo, E.; d’Argent, P.; de Vries, J. A.; Deschamps, O.; Dey, B.; Di Cicco, A.; Durham, J. M.; Ferreira Rodrigues, F.; Frank, M.; Fu, J.; Fuehring, Q.; Gabriel, E.; Gambetta, S.; Garau, M.; Garcia Martin, L. M.; Garcia Rosales, F. A.; Giovannetti, M.; Gruberg Cazon, B. R.; Haen, C.; Haines, S. C.; Hasse, C.; Heijhoff, K.; Henderson, R. D. L.; Henry, L.; Hou, Y.; Iniukhin, A.; Ivshin, K.; Kondybayeva, A.; Korolev, M.; Kozachuk, A.; Kubat, J.; Lin, T.; Lisovskyi, V.; Ma, R.; Maisuzenko, D.; McGrath, T. H.; McHugh, N. T.; Meier, G.; Mitchell, S. E.; Moron, J.; Naik, P.; Nieswand, S.; Nunez, C.; Pan, Y.; Parkes, C.; Pereima, D.; Poli Lener, M.; Prouve, C.; Rajagopalan, R.; Ricciardi, S.; Santimaria, M.; Satta, A.; Schael, S.; Schmitt, S.; Schubiger, M.; Schulte, S.; Sciuccati, A.; Sestini, L.; Shimizu, Y.; Shupperd, J. D.; Silva Coutinho, R.; Sokoloff, M. D.; Solovyev, I.; Szymanski, M.; Tomassetti, L.; Torres Machado, D.; Uwer, U.; Valassi, A.; Walsh, J.; Ward, J. A.; Wislicki, W.; Wormser, G.; Xu, L.; Xu, Z.; Yu, J.; Zaffaroni, E.; Zhang, L.

    Physical review. D, 8/2023, Letnik: 108, Številka: 3
    Journal Article