NUK - logo
E-viri
Celotno besedilo
Recenzirano
  • Search for rare decays B + ...
    Kumar, M.; Bhardwaj, V.; Aihara, H.; Behera, P.; Belous, K.; Bilka, T.; Bobrov, A.; Bodrov, D.; Borah, J.; Bozek, A.; Browder, T. E.; Budano, A.; Campajola, M.; Červenkov, D.; Chang, M.-C.; Chilikin, K.; Choi, S.-K.; Choudhury, S.; Cinabro, D.; Dash, N.; De Pietro, G.; Dhamija, R.; Doležal, Z.; Dong, T. V.; Dossett, D.; Epifanov, D.; Ferlewicz, D.; Garg, R.; Gaur, V.; Garmash, A.; Graziani, E.; Gudkova, K.; Iijima, T.; Inami, K.; Ishikawa, A.; Iwasaki, M.; Jacobs, W. W.; Jia, S.; Joo, K. K.; Kang, K. H.; Kim, D. Y.; Korpar, S.; Kovalenko, E.; Križan, P.; Krokovny, P.; Kumar, R.; Kumara, K.; Lange, J. S.; Li, J.; Li, L. K.; Matsuda, T.; Matvienko, D.; Maurya, S. K.; Merola, M.; Metzner, F.; Mizuk, R.; Mohanty, G. B.; Mrvar, M.; Nakao, M.; Natkaniec, Z.; Natochii, A.; Nayak, L.; Nayak, M.; Nishida, S.; Ono, H.; Oskin, P.; Pakhlova, G.; Pardi, S.; Park, H.; Patra, S.; Paul, S.; Podobnik, T.; Prencipe, E.; Prim, M. T.; Purohit, M. V.; Rout, N.; Russo, G.; Savinov, V.; Seino, Y.; Shen, C. P.; Stottler, Z. S.; Takizawa, M.; Tamponi, U.; Tanida, K.; Tenchini, F.; Tsuboyama, T.; Uchida, M.; Varner, G.; Varvell, K. E.; Vinokurova, A.; Waheed, E.; Wang, M.-Z.; Werbycka, O.; Won, E.; Yabsley, B. D.; Yan, W.; Yelton, J.; Yusa, Y.; Zhang, Z. P.; Zhilich, V.

    Physical review. D, 2/2023, Letnik: 107, Številka: 3
    Journal Article