E-viri
Recenzirano
Odprti dostop
-
Akerib, D. S.; Alsum, S.; Araújo, H. M.; Bai, X.; Balajthy, J.; Baxter, A.; Bernard, E. P.; Bernstein, A.; Biesiadzinski, T. P.; Boulton, E. M.; Boxer, B.; Brás, P.; Burdin, S.; Byram, D.; Carmona-Benitez, M. C.; Chan, C.; Cutter, J. E.; de Viveiros, L.; Druszkiewicz, E.; Fan, A.; Fiorucci, S.; Gaitskell, R. J.; Ghag, C.; Gilchriese, M. G. D.; Gwilliam, C.; Hall, C. R.; Haselschwardt, S. J.; Hertel, S. A.; Hogan, D. P.; Horn, M.; Huang, D. Q.; Ignarra, C. M.; Jacobsen, R. G.; Jahangir, O.; Ji, W.; Kamdin, K.; Kazkaz, K.; Khaitan, D.; Korolkova, E. V.; Kravitz, S.; Kudryavtsev, V. A.; Leason, E.; Lenardo, B. G.; Lesko, K. T.; Liao, J.; Lin, J.; Lindote, A.; Lopes, M. I.; Manalaysay, A.; Mannino, R. L.; Marangou, N.; McKinsey, D. N.; Mei, D.-M.; Moongweluwan, M.; Morad, J. A.; Murphy, A. St. J.; Naylor, A.; Nehrkorn, C.; Nelson, H. N.; Neves, F.; Nilima, A.; Oliver-Mallory, K. C.; Palladino, K. J.; Pease, E. K.; Riffard, Q.; Rischbieter, G. R. C.; Rhyne, C.; Rossiter, P.; Shaw, S.; Shutt, T. A.; Silva, C.; Solmaz, M.; Solovov, V. N.; Sorensen, P.; Sumner, T. J.; Szydagis, M.; Taylor, D. J.; Taylor, R.; Taylor, W. C.; Tennyson, B. P.; Terman, P. A.; Tiedt, D. R.; To, W. H.; Tvrznikova, L.; Utku, U.; Uvarov, S.; Vacheret, A.; Velan, V.; Webb, R. C.; White, J. T.; Whitis, T. J.; Witherell, M. S.; Wolfs, F. L. H.; Woodward, D.; Xu, J.; Zhang, C.
Physical review. D, 11/2020, Letnik: 102, Številka: 9Journal Article
Dual-phase xenon detectors, as currently used in direct detection dark matter experiments, have observed elevated rates of background electron events in the low energy region. While this background negatively impacts detector performance in various ways, its origins have only been partially studied. In this paper we report a systematic investigation of the electron pathologies observed in the LUX dark matter experiment. We characterize different electron populations based on their emission intensities and their correlations with preceding energy depositions in the detector. By studying the background under different experimental conditions, we identified the leading emission mechanisms, including photoionization and the photoelectric effect induced by the xenon luminescence, delayed emission of electrons trapped under the liquid surface, capture and release of drifting electrons by impurities, and grid electron emission. We discuss how these backgrounds can be mitigated in LUX and future xenon-based dark matter experiments.
Avtor
Vnos na polico
Trajna povezava
- URL:
Faktor vpliva
Dostop do baze podatkov JCR je dovoljen samo uporabnikom iz Slovenije. Vaš trenutni IP-naslov ni na seznamu dovoljenih za dostop, zato je potrebna avtentikacija z ustreznim računom AAI.
Leto | Faktor vpliva | Izdaja | Kategorija | Razvrstitev | ||||
---|---|---|---|---|---|---|---|---|
JCR | SNIP | JCR | SNIP | JCR | SNIP | JCR | SNIP |
Baze podatkov, v katerih je revija indeksirana
Ime baze podatkov | Področje | Leto |
---|
Povezave do osebnih bibliografij avtorjev | Povezave do podatkov o raziskovalcih v sistemu SICRIS |
---|
Vir: Osebne bibliografije
in: SICRIS
To gradivo vam je dostopno v celotnem besedilu. Če kljub temu želite naročiti gradivo, kliknite gumb Nadaljuj.