NUK - logo
E-viri
Celotno besedilo
Recenzirano Odprti dostop
  • Collision-System and Beam-E...
    Abdallah, M. S.; Adam, J.; Aggarwal, I.; Aggarwal, M. M.; Ashraf, M. U.; Atetalla, F. G.; Attri, A.; Behera, A.; Bhagat, P.; Bhasin, A.; Chen, J.; Chen, J. H.; Cheng, J.; Choudhury, S.; Christie, W.; Chu, X.; Crawford, H. J.; Daugherity, M.; Deppner, I. M.; Di Carlo, L.; Dixit, P.; Eppley, G.; Eyser, O.; Fatemi, R.; Fu, C.; Galatyuk, T.; Geurts, F.; Gibson, A.; He, W.; He, X. H.; Heppelmann, S.; Herrmann, N.; Huang, H.; Huang, X.; Igo, G.; Jena, C.; Ju, X.; Kabana, S.; Kabir, M. L.; Kelsey, M.; Kim, C.; Kisel, I.; Kosarzewski, L. K.; Kramarik, L.; Kunnawalkam Elayavalli, R.; Landgraf, J. M.; Lauret, J.; Lednicky, R.; Leung, Y. H.; Li, C.; Li, Y.; Liang, X.; Liu, F.; Liu, H.; Liu, Z.; Margetis, S.; Matis, H. S.; Mukherjee, A.; Nasim, Md; Nishitani, R.; Nonaka, T.; Ogawa, A.; Oh, S.; Okorokov, V. A.; Pandey, A. K.; Panebratsev, Y.; Parfenov, P.; Perkins, C.; Pintér, R. L.; Ponimatkin, G.; Przybycien, M.; Radhakrishnan, S. K.; Ritter, H. G.; Romero, J. L.; Ruan, L.; Shah, N.; Sheikh, A. I.; Shen, D.; Shi, S. S.; Sikora, R.; Simko, M.; Stanislaus, T. D. S.; Stefaniak, M.; Stewart, D. J.; Strikhanov, M.; Svirida, D. N.; Tripathy, S. K.; Tsai, O. D.; Ullrich, T.; Videbæk, F.; Wang, J. S.; Wissink, S. W.; Xiao, Z. G.; Xie, W.; Xu, Z.; Zbroszczyk, H.; Zha, W.; Zhang, D.; Zhang, Z.; Zhu, Z.

    Physical review letters, 12/2022, Letnik: 129, Številka: 25
    Journal Article