NUK - logo
E-viri
Recenzirano Odprti dostop
  • Measurement of the Top Quar...
    Abolins, M.; Adams, D. L.; Ahn, S.; Alves, G. A.; Amidi, E.; Bantly, J.; Bartlett, J. F.; Bhat, P. C.; Borders, J.; Brock, R.; Butler, J. M.; Carvalho, W.; Castilla-Valdez, H.; Chang, S.-M.; Chen, L.-P.; Chopra, S.; Chung, M.; Demarteau, M.; Denisov, D.; Diehl, H. T.; Di Loreto, G.; Eppley, G.; Fatyga, M.; Featherly, J.; Ferbel, T.; Flattum, E.; Fortner, M.; Galyaev, A. N.; Genik, II, R. J.; Gerber, C. E.; Gobbi, B.; Goforth, M.; Gómez, B.; Goncharov, P. I.; González Solís, J. L.; Gordon, H.; Grannis, P. D.; Grim, G.; Grossman, N.; Guida, J. M.; Gupta, A.; Gutnikov, Y. E.; Hagopian, S.; Hansen, S.; Heintz, U.; Heuring, T.; Hoftun, J. S.; Jesik, R.; Jones, M.; Klatchko, A.; Kozelov, A. V.; Krzywdzinski, S.; Lan, H.; Li, H.; Li, J.; Lincoln, D.; Linn, S. L.; Liu, Q.; Lobkowicz, F.; Lökös, S.; Lueking, L.; Markeloff, R.; Markosky, L.; McDonald, J.; McKibben, T.; McKinley, J.; Mondal, N. K.; Montgomery, H. E.; Narain, M.; Narayanan, A.; Negret, J. P.; Oshima, N.; Owen, D.; Pang, M.; Partridge, R.; Podstavkov, V. M.; Rajagopalan, S.; Rijssenbeek, M.; Santoro, A.; Sawyer, L.; Shankar, H. C.; Shivpuri, R. K.; Singh, H.; Sirotenko, V.; Snow, G. R.; Snyder, S.; Stephens, R. W.; Sznajder, A.; Tamburello, P.; Tartaglia, M.; Tuts, P. M.; Volkov, A. A.; Warchol, J.; Watts, G.; Weerts, H.; Xu, H.; Yepes, P.; Youssef, S.; Zieminska, D.; Zieminski, A.

    Physical review letters, 03/1998, Letnik: 80, Številka: 10
    Journal Article