NUK - logo
E-viri
Celotno besedilo
Recenzirano
  • Tevatron Run II combination...
    Amidei, D.; Asaadi, J.; Badgett, W.; Bassler, U.; Beretvas, A.; Blazey, G.; Boline, D.; Borissov, G.; Camacho-Pérez, E.; Chapon, E.; Choi, S.; Cooke, M.; Cooper, W. E.; Corcoran, M.; Couderc, F.; Denisov, S. P.; Desai, S.; D’Onofrio, M.; Driutti, A.; Dubey, A.; Edmunds, D.; Fisher, W.; Franc, J.; Gerber, C. E.; Gerberich, H.; Ginsburg, C. M.; Glenzinski, D.; Goncharov, M.; Goshaw, A. T.; Goulianos, K.; Grivaz, J. -F.; Happacher, F.; Hare, M.; Hedin, D.; Heinrich, J.; Heredia-De La Cruz, I.; Hoang, T.; Hocker, A.; Howley, I.; Iashvili, I.; Ilchenko, Y.; Iori, M.; Jeon, E. J.; Jesik, R.; Jiang, P.; Jung, A. W.; Kajfasz, E.; Khanov, A.; Kruse, M.; Kuhr, T.; Lebrun, P.; Lim, J. K.; Linnemann, J.; Liu, H.; Liu, Y.; Lobodenko, A.; Loginov, A.; Lyon, A. L.; Lys, J.; Maestro, P.; Manca, G.; Mazzacane, A.; Mazzanti, P.; Melnitchouk, A.; Mesropian, C.; Nachtman, J.; Neal, H. A.; Negret, J. P.; Norniella, O.; Nunnemann, T.; Osman, N.; Parihar, V.; Petrillo, G.; Rescigno, M.; Sato, K.; Schellman, H.; Scuri, F.; Seidel, S.; Shalhout, S. Z.; Shaw, S.; Shears, T.; Simak, V.; Skubic, P.; Smith, J. R.; Suslov, I.; Svoisky, P.; Takeuchi, Y.; Tang, J.; Uzunyan, S.; Vázquez, F.; Vellidis, C.; Volpi, G.; Warchol, J.; Williams, H. H.; Wilson, J. S.; Yao, W. -M.; Yasuda, T.; Zeng, Y.; Zennamo, J.; Zivkovic, L.

    Physical review. D, 06/2018, Letnik: 97, Številka: 11
    Journal Article