Akimov, D.; Albert, J. B.; An, P.; Awe, C.; Barbeau, P. S.; Becker, B.; Belov, V.; Brown, A.; Bolozdynya, A.; Cabrera-Palmer, B.; Cervantes, M.; Collar, J. I.; Cooper, R. J.; Cooper, R. L.; Cuesta, C.; Dean, D. J.; Detwiler, J. A.; Eberhardt, A.; Efremenko, Y.; Elliott, S. R.; Erkela, E. M.; Fabris, L.; Febbraro, M.; Fields, N. E.; Fox, W.; Fu, Z.; Galindo-Uribarri, A.; Green, M. P.; Hai, M.; Heath, M. R.; Hedges, S.; Hornback, D.; Hossbach, T. W.; Iverson, E. B.; Kaufman, L. J.; Ki, S.; Klein, S. R.; Khromov, A.; Konovalov, A.; Kremer, M.; Kumpan, A.; Leadbetter, C.; Li, L.; Lu, W.; Mann, K.; Markoff, D. M.; Miller, K.; Moreno, H.; Mueller, P. E.; Newby, J.; Orrell, J. L.; Overman, C. T.; Parno, D. S.; Penttila, S.; Perumpilly, G.; Ray, H.; Raybern, J.; Reyna, D.; Rich, G. C.; Rimal, D.; Rudik, D.; Scholberg, K.; Scholz, B. J.; Sinev, G.; Snow, W. M.; Sosnovtsev, V.; Shakirov, A.; Suchyta, S.; Suh, B.; Tayloe, R.; Thornton, R. T.; Tolstukhin, I.; Vanderwerp, J.; Varner, R. L.; Virtue, C. J.; Wan, Z.; Yoo, J.; Yu, C. -H.; Zawada, A.; Zettlemoyer, J.; Zderic, A. M.