E-viri
Recenzirano
-
Abouliatim, Y.; Chartier, T.; Abelard, P.; Chaput, C.; Delage, C.
Journal of the European Ceramic Society, 03/2009, Letnik: 29, Številka: 5Journal Article
The multiple light scattering in concentrated alumina suspensions adapted to stereolithography can be modeled using diffuse reflectance measurements coupled to the Kubelka–Munk model. The penetration depth of UV radiation can be related to the scattering coefficient allowing the prediction of the cure depth with an accuracy of 20%.
![loading ... loading ...](themes/default/img/ajax-loading.gif)
Vnos na polico
Trajna povezava
- URL:
Faktor vpliva
Dostop do baze podatkov JCR je dovoljen samo uporabnikom iz Slovenije. Vaš trenutni IP-naslov ni na seznamu dovoljenih za dostop, zato je potrebna avtentikacija z ustreznim računom AAI.
Leto | Faktor vpliva | Izdaja | Kategorija | Razvrstitev | ||||
---|---|---|---|---|---|---|---|---|
JCR | SNIP | JCR | SNIP | JCR | SNIP | JCR | SNIP |
Baze podatkov, v katerih je revija indeksirana
Ime baze podatkov | Področje | Leto |
---|
Povezave do osebnih bibliografij avtorjev | Povezave do podatkov o raziskovalcih v sistemu SICRIS |
---|
Vir: Osebne bibliografije
in: SICRIS
To gradivo vam je dostopno v celotnem besedilu. Če kljub temu želite naročiti gradivo, kliknite gumb Nadaljuj.