Optical characterization of stereolithography alumina suspensions using the Kubelka–Munk model

E-viri

Recenzirano

Optical characterization of stereolithography alumina suspensions using the Kubelka–Munk model

Abouliatim, Y.; Chartier, T.; Abelard, P.; Chaput, C.; Delage, C.

Journal of the European Ceramic Society, 03/2009, Letnik: 29, Številka: 5

Journal Article

The multiple light scattering in concentrated alumina suspensions adapted to stereolithography can be modeled using diffuse reflectance measurements coupled to the Kubelka–Munk model. The penetration depth of UV radiation can be related to the scattering coefficient allowing the prediction of the cure depth with an accuracy of 20%.

Išči dalje

Avtor

Abouliatim, Y. | Chartier, T. | Abelard, P. | Chaput, C. | Delage, C.

Dostop do baze podatkov JCR je dovoljen samo uporabnikom iz Slovenije. Vaš trenutni IP-naslov ni na seznamu dovoljenih za dostop, zato je potrebna avtentikacija z ustreznim računom AAI.

Leto	Faktor vpliva		Izdaja		Kategorija		Razvrstitev
Leto	JCR	SNIP	JCR	SNIP	JCR	SNIP	JCR	SNIP

Povezave do osebnih bibliografij avtorjev	Povezave do podatkov o raziskovalcih v sistemu SICRIS

Vir: Osebne bibliografije in: SICRIS

Naloži sliko

Vnos na polico

Dodajanje gradiva na polico je uspelo.

Dodajanje gradiva na polico je spodletelo.

Dodajanje gradiva na polico ni bilo potrebno.

Trajna povezava

E-pošta

Faktor vpliva

Izberite knjižnično izkaznico:

Baze podatkov, v katerih je revija indeksirana

Citiranje

Tema