Angüner, E. O.; Arakawa, M.; Aubert, P.; Becherini, Y.; Bolmont, J.; Brun, P.; Bryan, M.; Capasso, M.; Casanova, S.; Cerruti, M.; Chevalier, J.; Conrad, J.; Decock, J.; Degrange, B.; Deil, C.; de Wilt, P.; Djannati-Ataï, A.; Donath, A.; Drury, L. O’C.; Edwards, T.; Ernenwein, J.-P.; Farnier, C.; Fegan, S.; Fiasson, A.; Förster, A.; Funk, S.; Hahn, J.; Heinzelmann, G.; Hoischen, C.; Holch, T. L.; Holler, M.; Horns, D.; Iwasaki, H.; Janiak, M.; Jankowsky, F.; Jogler, T.; Katsuragawa, M.; Katz, U.; King, J.; Klepser, S.; Klochkov, D.; Kosack, K.; Krakau, S.; Krüger, P. P.; Laffon, H.; Lau, J.; Lees, J.-P.; Lefranc, V.; Lenain, J.-P.; Leser, E.; Lohse, T.; Lorentz, M.; Liu, R.; López-Coto, R.; Marandon, V.; Marcowith, A.; Maurin, G.; Maxted, N.; Meintjes, P. J.; Moulin, E.; Nakashima, S.; Odaka, H.; Ohm, S.; Pekeur, N. W.; Piel, Q.; Poon, H.; Pühlhofer, G.; Punch, M.; Rauth, R.; Reimer, A.; Renaud, M.; Rieger, F.; Romoli, C.; Rowell, G.; Rudak, B.; Sahakian, V.; Schulz, A.; Schwanke, U.; Shafi, N.; Spengler, G.; Spies, F.; Steenkamp, R.; Stegmann, C.; Sushch, I.; Takahashi, T.; Tavernier, T.; Taylor, A. M.; Tibaldo, L.; Tsuji, N.; van der Walt, D. J.; van Rensburg, C.; Venter, C.; Vuillaume, T.; Wadiasingh, Z.; Wagner, S. J.; Wagner, P.; Wagner, R. M.; Wierzcholska, A.; Wörnlein, A.; Wouters, D.