NUK - logo
E-viri
Celotno besedilo
Recenzirano
  • Measurement of the branchin...
    Li, L. K.; Won, E.; Aihara, H.; Asner, D. M.; Atmacan, H.; Aulchenko, V.; Ayad, R.; Bhardwaj, V.; Bilka, T.; Bobrov, A.; Bonvicini, G.; Bračko, M.; Branchini, P.; Budano, A.; Chen, A.; Cheon, B. G.; Cho, S.-J.; Choi, S.-K.; Choi, Y.; Cinabro, D.; Cunliffe, S.; Das, S.; Dash, N.; De Pietro, G.; Dossett, D.; Frey, A.; Fulsom, B. G.; Garmash, A.; Giri, A.; Guan, Y.; Hayasaka, K.; Hou, W.-S.; Hsu, C.-L.; Inami, K.; Ishikawa, A.; Iwasaki, M.; Kawasaki, T.; Kiesling, C.; Kim, C. H.; Korobov, A.; Korpar, S.; Kovalenko, E.; Križan, P.; Krokovny, P.; Kuhr, T.; Kumara, K.; Kuzmin, A.; Lam, T.; Laurenza, M.; Lee, S. C.; Li, Y. B.; Libby, J.; Lieret, K.; Martini, A.; Matvienko, D.; Maurya, S. K.; Meier, F.; Natochii, A.; Nayak, M.; Nisar, N. K.; Nishida, S.; Ono, H.; Pakhlova, G.; Passeri, A.; Patra, S.; Pedlar, T. K.; Pestotnik, R.; Podobnik, T.; Prim, M. T.; Rout, N.; Sangal, A.; Santelj, L.; Schnell, G.; Schueler, J.; Schwanda, C.; Seino, Y.; Senyo, K.; Sevior, M. E.; Sharma, C.; Simon, F.; Singh, J. B.; Sokolov, A.; Starič, M.; Stottler, Z. S.; Sumihama, M.; Takizawa, M.; Tamponi, U.; Tanida, K.; Tenchini, F.; Uno, S.; Usov, Y.; van Tonder, R.; Vossen, A.; Wang, E.; Werbycka, O.; Yin, J. H.; Yuan, C. Z.; Zhang, Z. P.; Zhilich, V.; Zhukova, V.

    Physical review. D, 2/2023, Letnik: 107, Številka: 3
    Journal Article