VSE knjižnice (vzajemna bibliografsko-kataložna baza podatkov COBIB.SI)
  • Criticality of depth of intensity modulation and simulation of refractive index profile in thermal lens technique
    Raj, Vimal ; Swapna, Mohanachandran Nair Sindhu ; Sankararaman, Sankaranarayana Iyer
    Vir: EPJ. Applied physics. - ISSN 1286-0042 (Vol. 90, no. 1, 2020, str. 1-7)
    Vrsta gradiva - članek, sestavni del
    Leto - 2020
    Jezik - angleški
    COBISS.SI-ID - 113924611

    Povezava(-e):

    Repozitorij Univerze v Novi Gorici - RUNG
    DOI

vir: EPJ. Applied physics. - ISSN 1286-0042 (Vol. 90, no. 1, 2020, str. 1-7)
loading ...
loading ...
loading ...

Vnos na polico