VSE knjižnice (vzajemna bibliografsko-kataložna baza podatkov COBIB.SI)
  • Method and device for the determination of a measure of band gaps at optoelectronic components = Verfahren und eine Vorrichtung zur Bestimmung einer Messung von Bandlücken bei optoelektronischen Komponenten = Procédé et dispositif pour la détermination d'une mesure de bandes interdites au niveau de composants optoélectroniques : European patent specification EP 3 394 979 B1, 2019-09-18
    Bokalič, Matevž ...
    Vrsta gradiva - patent
    Založništvo in izdelava - Munich : European Patent Office, 2019
    Jezik - angleški
    COBISS.SI-ID - 12725844

Nobena knjižnica v sistemu COBISS.SI nima izvoda tega gradiva.
loading ...
loading ...
loading ...