VSE knjižnice (vzajemna bibliografsko-kataložna baza podatkov COBIB.SI)
-
Extracting electron backscattering coefficients from backscattered electron micrographsZupanič, FrancElectron backscattering micrographs possess the so-called Z-contrast, carrying information about the chemical compositions of phases present in microstructures. The intensity at a particular point in ... the backscattered electron micrograph is proportional to the signal detected at a corresponding point in the scan raster, which is, in turn, proportional to the electron backscattering coefficient of a phase at that point. This article introduces a simple method for extracting the electron backscattering coefficients of phases present in the microstructure, from the backscattered electron micrographs. This method is able to convert the micrograph's greyscale to the backscattering-coefficient-scale. The prerequisite involves the known backscattering coefficients for two phases in the micrograph. In this way, backscattering coefficients of other phases can be determined. The method is unable to determine the chemical compositions of phases or the presence of an element only from analysing the backscattered electron micrograph. Nevertheless, this method was found to be very powerful when combined with energy dispersive spectroscopy, and the calculations of backscattering coefficients.Vir: Materials characterization. - ISSN 1044-5803 (Vol. 61, iss. 12, Dec. 2010, str. 1335-1341)Vrsta gradiva - članek, sestavni delLeto - 2010Jezik - angleškiCOBISS.SI-ID - 14470422
Avtor
Zupanič, Franc
Teme
koeficient povratnega sipanja elektronov |
analiza slike |
vrstična elektronska mikroskopija |
energijskodisperzna analiza |
fazna analiza |
berilij |
electron backscattering coefficient |
image analysis scanning electron microscopy |
energy dispersive spectroscopy |
phase analysis |
Beryllium
Vnos na polico
Trajna povezava
- URL:
Faktor vpliva
Dostop do baze podatkov JCR je dovoljen samo uporabnikom iz Slovenije. Vaš trenutni IP-naslov ni na seznamu dovoljenih za dostop, zato je potrebna avtentikacija z ustreznim računom AAI.
Leto | Faktor vpliva | Izdaja | Kategorija | Razvrstitev | ||||
---|---|---|---|---|---|---|---|---|
JCR | SNIP | JCR | SNIP | JCR | SNIP | JCR | SNIP |
Baze podatkov, v katerih je revija indeksirana
Ime baze podatkov | Področje | Leto |
---|
Povezave do osebnih bibliografij avtorjev | Povezave do podatkov o raziskovalcih v sistemu SICRIS |
---|---|
Zupanič, Franc | 12295 |
Vir: Osebne bibliografije
in: SICRIS
Izberite prevzemno mesto:
Prevzem gradiva po pošti
Naslov za dostavo:
Med podatki člana manjka naslov.
Storitev za pridobivanje naslova trenutno ni dostopna, prosimo, poskusite še enkrat.
S klikom na gumb "V redu" boste potrdili zgoraj izbrano prevzemno mesto in dokončali postopek rezervacije.
S klikom na gumb "V redu" boste potrdili zgoraj izbrano prevzemno mesto in naslov za dostavo ter dokončali postopek rezervacije.
S klikom na gumb "V redu" boste potrdili zgoraj izbrani naslov za dostavo in dokončali postopek rezervacije.
Obvestilo
Trenutno je storitev za avtomatsko prijavo in rezervacijo nedostopna. Gradivo lahko rezervirate sami na portalu Biblos ali ponovno poskusite tukaj kasneje.
Gesla v Splošnem geslovniku COBISS
Izbira mesta prevzema
Gradivo iz matične enote je brezplačno. Če je gradivo na mesto prevzema dostavljeno iz drugih enot, lahko knjižnica to storitev zaračuna.
Mesto prevzema | Status gradiva | Rezervacija |
---|
Rezervacija v teku
Prosimo, počakajte trenutek.
Rezervacija je uspela.
Rezervacija ni uspela.
Rezervacija...
Članska izkaznica:
Mesto prevzema: