VSE knjižnice (vzajemna bibliografsko-kataložna baza podatkov COBIB.SI)
-
Effect of ZDDP concentration on the thermal film formation on steel, hydrogenated non-doped and Si-doped DLCAkbari, Somayeh ; Kovač, Janez, 1965- ; Kalin, MitjanThis work focuses on the ZDDP concentration (1, 5 and 20 wt%) to form a ZDDP film on surfaces during static thermal tests at 150 °C. Silicon-doped and hydrogenated DLC coatings, as well as steel as ... reference, were studied using Attenuated Total Reflection-Fourier Transform Infrared (ATR-FTIR) spectroscopy and X-ray Photoelectron Spectroscopy (XPS). The results show that, on the three surfaces, the structure of the ZDDP thermal film consists of identical groups of pyrophosphate and zinc oxide, while the sulphuric groups are dissimilar. On the steel surface, the sulphuric part consists of a mixture of organic sulphide and sulphohydryl groups, but on H-DLC and Si-DLC only organic sulphide groups are found; there are no sulphohydryl groups. Moreover, both ATR-FTIR and XPS show that different concentrations of ZDDP do not affect the final chemical structure of the ZDDP thermal film on any of the studied surfaces. In addition, the XPS results show that the thickness of the thermal film is linear with the concentration for the whole range from 1 to 20 wt%, supporting also its uniform chemical structure. These thicknesses further show that the reactivity of the ZDDP film is higher on the steel surface than on the DLC coatings.Vir: Applied Surface Science. - ISSN 0169-4332 (Vol. 383, Oct. 2016, str. 191-199)Vrsta gradiva - članek, sestavni delLeto - 2016Jezik - angleškiCOBISS.SI-ID - 14627099
Avtor
Akbari, Somayeh |
Kovač, Janez, 1965- |
Kalin, Mitjan
Teme
zinc dialkyl dithiophosphosphate |
diamond-like carbon coatings |
attenuated total reflection-Fourier transform infrared spectroscopy |
x-ray photoelectron spectroscopy |
cink dialkil ditiofosfat |
prevleke iz diamantu-podobnega ogljika |
ATR |
FT-IR spektroskopija |
XPS
Vnos na polico
Trajna povezava
- URL:
Faktor vpliva
Dostop do baze podatkov JCR je dovoljen samo uporabnikom iz Slovenije. Vaš trenutni IP-naslov ni na seznamu dovoljenih za dostop, zato je potrebna avtentikacija z ustreznim računom AAI.
Leto | Faktor vpliva | Izdaja | Kategorija | Razvrstitev | ||||
---|---|---|---|---|---|---|---|---|
JCR | SNIP | JCR | SNIP | JCR | SNIP | JCR | SNIP |
Baze podatkov, v katerih je revija indeksirana
Ime baze podatkov | Področje | Leto |
---|
Povezave do osebnih bibliografij avtorjev | Povezave do podatkov o raziskovalcih v sistemu SICRIS |
---|---|
Akbari, Somayeh | 39567 |
Kovač, Janez, 1965- | 15703 |
Kalin, Mitjan | 14556 |
Vir: Osebne bibliografije
in: SICRIS
Izberite prevzemno mesto:
Prevzem gradiva po pošti
Naslov za dostavo:
Med podatki člana manjka naslov.
Storitev za pridobivanje naslova trenutno ni dostopna, prosimo, poskusite še enkrat.
S klikom na gumb "V redu" boste potrdili zgoraj izbrano prevzemno mesto in dokončali postopek rezervacije.
S klikom na gumb "V redu" boste potrdili zgoraj izbrano prevzemno mesto in naslov za dostavo ter dokončali postopek rezervacije.
S klikom na gumb "V redu" boste potrdili zgoraj izbrani naslov za dostavo in dokončali postopek rezervacije.
Obvestilo
Trenutno je storitev za avtomatsko prijavo in rezervacijo nedostopna. Gradivo lahko rezervirate sami na portalu Biblos ali ponovno poskusite tukaj kasneje.
Gesla v Splošnem geslovniku COBISS
Izbira mesta prevzema
Gradivo iz matične enote je brezplačno. Če je gradivo na mesto prevzema dostavljeno iz drugih enot, lahko knjižnica to storitev zaračuna.
Mesto prevzema | Status gradiva | Rezervacija |
---|
Rezervacija v teku
Prosimo, počakajte trenutek.
Rezervacija je uspela.
Rezervacija ni uspela.
Rezervacija...
Članska izkaznica:
Mesto prevzema: