VSE knjižnice (vzajemna bibliografsko-kataložna baza podatkov COBIB.SI)
  • Merilnik temperature in temperaturnih gradientov v majhnih vzorcih z metodo jedrske kvadrupolne resonance : patent SI 22594 A
    Lužnik, Janko, 1948-2012 ; Pirnat, Janez, 1948- ; Trontelj, Zvonko, 1937-2024
    Predmet izuma je merilnik temperature (T) in temperaturnih gradientov (dT/dz) v milimetrskih vzorcih. Merilnik po izumu izvaja meritev temperature in temperaturnih gradientov preko meritve frekvence ... jedrske kvadrupolne resonance (JKR) ▫$^{35}$▫Cl v NaClO▫$_3$▫ ali KClO▫$_3$▫. Po izumu je uporabljen najmanj en od 1 do 2 mm▫$^3$▫ velik monokristalček NaClO▫$_3$▫ ali KClO▫$_3$▫, na katerega je navita tuljavica, ki je del vhodnega oscilatorskega kroga JKR spektrometra. Meritev temperature se da izvesti tudi, če je navedena tuljava navita kar okrog samega merskega prostorčka, kjer je to izvedljivo. Če je uporabljeno več monokristalčkov, je možno sočasno meriti temperaturo na več mestih. Če so znane krajevne koordinate senzorjev, je možno določiti tudi temperaturni gradient iz temperaturnega premika JKR ▫$^{35}$▫Cl. Z uporabo podolgovatega senzorja pa je možno določiti temperaturni gradient neposredno iz razširitve JKR črte.
    Vrsta gradiva - patent
    Založništvo in izdelava - Ljubljana : Urad RS za intelektualno lastnino, 28. 02. 2009
    Jezik - slovenski
    COBISS.SI-ID - 15097177

Nobena knjižnica v sistemu COBISS.SI nima izvoda tega gradiva.
loading ...
loading ...
loading ...