-
Pharmaceutical stability testing to support global markets [Elektronski vir]Contains proceedings of the AAPS Stability WorkshopVrsta gradiva - e-knjigaZaložništvo in izdelava - New York : Springer, ©2010Jezik - angleškiISBN - 978-1-4419-0889-6; 1-4419-0889-7COBISS.SI-ID - 1542353887
Povezava(-e):
SpringerLink e-books 2008-2012Celotno besedilo dostopno za uporabnike SpringerLink slovenskega konzorcija neprofitnih institucij
Full text accessible to the users of SpringerLink Slovenian Consortium of Non-Profit Institutions
DOI
Drugi avtorji
Huynh-Ba, Kim
Teme
Drug stability |
Testing |
Congresses |
Drug Stability |
Congresses |
Drug Evaluation |
Congresses |
Pharmaceutical Preparations |
standards |
Congresses |
Pharmacy |
Medicine |
MEDICAL |
Drug Guides |
MEDICAL |
Pharmacology |
MEDICAL |
Pharmacy |
MEDICAL |
Nursing |
Pharmacology |
Biomédecine |
Sciences de la vie |
Drug development |
Drug stability |
Drugs |
Testing |
Drug stability |
Drug evaluation |
Pharmaceutical Preparations |
standards |
Pharmacy |
Medicine |
MEDICAL |
Drug Guides |
MEDICAL |
Pharmacology |
MEDICAL |
Pharmacy |
MEDICAL |
Nursing |
Pharmacology |
Electronic books |
Drug stability |
Testing |
Electronic books
![loading ... loading ...](themes/default/img/ajax-loading.gif)
Vnos na polico
Trajna povezava
- URL:
Faktor vpliva
Dostop do baze podatkov JCR je dovoljen samo uporabnikom iz Slovenije. Vaš trenutni IP-naslov ni na seznamu dovoljenih za dostop, zato je potrebna avtentikacija z ustreznim računom AAI.
Leto | Faktor vpliva | Izdaja | Kategorija | Razvrstitev | ||||
---|---|---|---|---|---|---|---|---|
JCR | SNIP | JCR | SNIP | JCR | SNIP | JCR | SNIP |
Baze podatkov, v katerih je revija indeksirana
Ime baze podatkov | Področje | Leto |
---|
Povezave do osebnih bibliografij avtorjev | Povezave do podatkov o raziskovalcih v sistemu SICRIS |
---|
Izberite prevzemno mesto:
Prevzem gradiva po pošti
Obvestilo
Gesla v Splošnem geslovniku COBISS
Izbira mesta prevzema
Mesto prevzema | Status gradiva | Rezervacija |
---|
Prosimo, počakajte trenutek.