VSE knjižnice (vzajemna bibliografsko-kataložna baza podatkov COBIB.SI)
Celotno besedilo
  • Accelerating test, validation and debug of high speed serial interfaces [Elektronski vir]
    Fan, Yongquan, 1970-
    Vrsta gradiva - e-knjiga
    Založništvo in izdelava - Dordrecht ; London : Springer, 2011
    Jezik - angleški
    ISBN - 978-90-481-9398-1; 90-481-9398-2
    COBISS.SI-ID - 1543277279

    Povezava(-e):

    SpringerLink e-books 2008-2012

    Celotno besedilo dostopno za uporabnike SpringerLink slovenskega konzorcija neprofitnih institucij

    Full text accessible to the users of SpringerLink Slovenian Consortium of Non-Profit Institutions


    DOI