-
Accelerating test, validation and debug of high speed serial interfaces [Elektronski vir]Fan, Yongquan, 1970-Vrsta gradiva - e-knjigaZaložništvo in izdelava - Dordrecht ; London : Springer, 2011Jezik - angleškiISBN - 978-90-481-9398-1; 90-481-9398-2COBISS.SI-ID - 1543277279
Povezava(-e):
SpringerLink e-books 2008-2012Celotno besedilo dostopno za uporabnike SpringerLink slovenskega konzorcija neprofitnih institucij
Full text accessible to the users of SpringerLink Slovenian Consortium of Non-Profit Institutions
DOI
Avtor
Fan, Yongquan, 1970-
Drugi avtorji
Zilic, Zeljko
Teme
Interface circuits |
Testing |
Very high speed integrated circuits |
Testing |
TECHNOLOGY & ENGINEERING |
Electronics |
Circuits |
General |
TECHNOLOGY & ENGINEERING |
Electronics |
Circuits |
Integrated |
Ingénierie |
Electronic books
Vnos na polico
Trajna povezava
- URL:
Faktor vpliva
Dostop do baze podatkov JCR je dovoljen samo uporabnikom iz Slovenije. Vaš trenutni IP-naslov ni na seznamu dovoljenih za dostop, zato je potrebna avtentikacija z ustreznim računom AAI.
Leto | Faktor vpliva | Izdaja | Kategorija | Razvrstitev | ||||
---|---|---|---|---|---|---|---|---|
JCR | SNIP | JCR | SNIP | JCR | SNIP | JCR | SNIP |
Baze podatkov, v katerih je revija indeksirana
Ime baze podatkov | Področje | Leto |
---|
Povezave do osebnih bibliografij avtorjev | Povezave do podatkov o raziskovalcih v sistemu SICRIS |
---|
Izberite prevzemno mesto:
Prevzem gradiva po pošti
Obvestilo
Gesla v Splošnem geslovniku COBISS
Izbira mesta prevzema
Mesto prevzema | Status gradiva | Rezervacija |
---|
Prosimo, počakajte trenutek.