VSE knjižnice (vzajemna bibliografsko-kataložna baza podatkov COBIB.SI)
  • Photoinduced defects in semiconductors
    Redfield, David ; Bube, Richard H.
    Vrsta gradiva - pregledna monografija
    Založništvo in izdelava - Cambridge (Mass.) : Cambridge University Press, 1996
    Jezik - angleški
    ISBN - 0-521-46196-0
    COBISS.SI-ID - 16756229

Nobena knjižnica v sistemu COBISS.SI nima izvoda tega gradiva.
loading ...
loading ...
loading ...