VSE knjižnice (vzajemna bibliografsko-kataložna baza podatkov COBIB.SI)
-
Vacuum measurements in small sealed systemsŠetina, Janez ; Žumer, Marko, fizik ; Erjavec, Bojan, 1950-2023Single cell putter-ion pumps are often used for appendage pumping of small sealed systems such as electron tubes. After evacuation and pinching-off, the ion pump provides additional gas clean-up and ... thus extends the lifetime of the tube. Below ▫$10^{-2} Pa the discharge is magnetically confined and the current drawn by the sputter-ion pump is linearly proportional to the pressure. This phenomenon enables the use of the sputter-ion pump as a pressure gauge over a part of its operating range. Below 10^{-6} Pa the use of the pump as a gauge is limited due to the field emission and the insulator leakage currents. The latter overshadow the current drawn by the discharge at low pressures. Discharge ignition is yet another difficulty at low pressure use of the sputter-ion pumps. Single cell sputter-ion pumps, which are available on the market, hardly start below 10^{-5} Pa. In the electron tubes evacuated in our laboratory the pressure after pinch-off is below the striking pressure of appendage pumps. This problem is overcome by inserting hot cathodes in single cell sputter-ion pumps and by improving the insulation in order to minimize leakage currents. Modified ion pumps start and work at discharge currents below 10^{-10} A and indicate pressures below 10^{-8} Pa. Thus the monitoring of the vacuum in the electron tubes is possible after processing. The influence of different operating conditions on further degassing of the electron tube elements can be evaluated.$▫Vir: Vacuum. - ISSN 0042-207X (Vol. 38, no. 8-10, 1988, str. 946)Vrsta gradiva - prispevek na konferenciLeto - 1988Jezik - angleškiCOBISS.SI-ID - 18671621
![loading ... loading ...](themes/default/img/ajax-loading.gif)
Vnos na polico
Trajna povezava
- URL:
Faktor vpliva
Dostop do baze podatkov JCR je dovoljen samo uporabnikom iz Slovenije. Vaš trenutni IP-naslov ni na seznamu dovoljenih za dostop, zato je potrebna avtentikacija z ustreznim računom AAI.
Leto | Faktor vpliva | Izdaja | Kategorija | Razvrstitev | ||||
---|---|---|---|---|---|---|---|---|
JCR | SNIP | JCR | SNIP | JCR | SNIP | JCR | SNIP |
Baze podatkov, v katerih je revija indeksirana
Ime baze podatkov | Področje | Leto |
---|
Povezave do osebnih bibliografij avtorjev | Povezave do podatkov o raziskovalcih v sistemu SICRIS |
---|---|
Žumer, Marko, fizik | 03366 |
Erjavec, Bojan, 1950-2023 | 05673 |
Vir: Osebne bibliografije
in: SICRIS
Izberite prevzemno mesto:
Prevzem gradiva po pošti
Naslov za dostavo:
Med podatki člana manjka naslov.
Storitev za pridobivanje naslova trenutno ni dostopna, prosimo, poskusite še enkrat.
S klikom na gumb "V redu" boste potrdili zgoraj izbrano prevzemno mesto in dokončali postopek rezervacije.
S klikom na gumb "V redu" boste potrdili zgoraj izbrano prevzemno mesto in naslov za dostavo ter dokončali postopek rezervacije.
S klikom na gumb "V redu" boste potrdili zgoraj izbrani naslov za dostavo in dokončali postopek rezervacije.
Obvestilo
Trenutno je storitev za avtomatsko prijavo in rezervacijo nedostopna. Gradivo lahko rezervirate sami na portalu Biblos ali ponovno poskusite tukaj kasneje.
Gesla v Splošnem geslovniku COBISS
Izbira mesta prevzema
Gradivo iz matične enote je brezplačno. Če je gradivo na mesto prevzema dostavljeno iz drugih enot, lahko knjižnica to storitev zaračuna.
Mesto prevzema | Status gradiva | Rezervacija |
---|
Rezervacija v teku
Prosimo, počakajte trenutek.
Rezervacija je uspela.
Rezervacija ni uspela.
Rezervacija...
Članska izkaznica:
Mesto prevzema: