-
A methodology for advanced manufacturing defect detection through self-supervised learning on X-ray images [Elektronski vir]Intxausti, Eneko ...Vir: Applied sciences [Elektronski vir]. - ISSN 2076-3417 (Vol. 14, iss. 7, [article no.] 2785, Apr. 2024, str. 1-18)Vrsta gradiva - e-članek ; neleposlovje za odrasleLeto - 2024Jezik - angleškiCOBISS.SI-ID - 197255171
Avtor
Intxausti, Eneko |
Skočaj, Danijel |
Cernuda, Carlos |
Zugasti, Ekhi
Teme
strojni vid |
globoko učenje |
detekcija anomalij |
rentgenske slike |
samonadzorovano učenje |
nadzorovano učenje |
nadzor kvalitete |
machine vision |
deep learning |
anomaly detection |
x-ray images |
self-supervised learning |
supervised learning |
quality control
![loading ... loading ...](themes/default/img/ajax-loading.gif)
Vnos na polico
Trajna povezava
- URL:
Faktor vpliva
Dostop do baze podatkov JCR je dovoljen samo uporabnikom iz Slovenije. Vaš trenutni IP-naslov ni na seznamu dovoljenih za dostop, zato je potrebna avtentikacija z ustreznim računom AAI.
Leto | Faktor vpliva | Izdaja | Kategorija | Razvrstitev | ||||
---|---|---|---|---|---|---|---|---|
JCR | SNIP | JCR | SNIP | JCR | SNIP | JCR | SNIP |
Baze podatkov, v katerih je revija indeksirana
Ime baze podatkov | Področje | Leto |
---|
Povezave do osebnih bibliografij avtorjev | Povezave do podatkov o raziskovalcih v sistemu SICRIS |
---|---|
Intxausti, Eneko | ![]() |
Skočaj, Danijel | 18198 |
Cernuda, Carlos | ![]() |
Zugasti, Ekhi | ![]() |
Izberite prevzemno mesto:
Prevzem gradiva po pošti
Obvestilo
Gesla v Splošnem geslovniku COBISS
Izbira mesta prevzema
Mesto prevzema | Status gradiva | Rezervacija |
---|
Prosimo, počakajte trenutek.