-
An introduction to surface analysis by XPS and AESWatts, John F. ; Wolstenholme, JohnVrsta gradiva - knjigaZaložništvo in izdelava - Chichester [etc.] : J. Wiley, 2003Jezik - angleškiISBN - 0-470-84712-3; 0-470-84713-1COBISS.SI-ID - 25127685
Avtor
Watts, John F. |
Wolstenholme, John
Teme
Surfaces (Technology) |
Analysis |
Electron spectroscopy |
analitska kemija |
kemijska analiza |
kvalitativna analiza |
kvantitativna analiza |
površinska analiza |
elektronske spektroskopske tehnike |
elektronska spektroskopija |
XPS |
AES |
SAM |
AES/SAM |
ARXPS |
materiali |
preiskave materialov
Knjižnica/institucija |
Kraj | Akronim | Za izposojo | Druga zaloga |
---|---|---|---|---|
Institut Jožef Stefan, Ljubljana | Ljubljana | IJS |
na dom 1 izv.
|
|
Knjižnica FKKT in FRI, Ljubljana | Ljubljana | FKKRI |
v čitalnico 1 izv.
|
Vnos na polico
Trajna povezava
- URL:
Faktor vpliva
Dostop do baze podatkov JCR je dovoljen samo uporabnikom iz Slovenije. Vaš trenutni IP-naslov ni na seznamu dovoljenih za dostop, zato je potrebna avtentikacija z ustreznim računom AAI.
Leto | Faktor vpliva | Izdaja | Kategorija | Razvrstitev | ||||
---|---|---|---|---|---|---|---|---|
JCR | SNIP | JCR | SNIP | JCR | SNIP | JCR | SNIP |
Baze podatkov, v katerih je revija indeksirana
Ime baze podatkov | Področje | Leto |
---|
Povezave do osebnih bibliografij avtorjev | Povezave do podatkov o raziskovalcih v sistemu SICRIS |
---|---|
Watts, John F. | |
Wolstenholme, John |
Izberite prevzemno mesto:
Prevzem gradiva po pošti
Obvestilo
Gesla v Splošnem geslovniku COBISS
Izbira mesta prevzema
Mesto prevzema | Status gradiva | Rezervacija |
---|
Prosimo, počakajte trenutek.