VSE knjižnice (vzajemna bibliografsko-kataložna baza podatkov COBIB.SI)
  • Non-destructive quantitative phase analysis of an LTCC material
    Makarovič, Kostja ...
    Vir: Microelectronics international. - ISSN 1356-5362 (Vol. 30, no. 2, 2013, str. 73-76)
    Vrsta gradiva - članek, sestavni del
    Leto - 2013
    Jezik - angleški
    COBISS.SI-ID - 26700583
    DOI