VSE knjižnice (vzajemna bibliografsko-kataložna baza podatkov COBIB.SI)
Celotno besedilo
  • Spectroscopic photo I-V diagnostics of nitride-based high electron mobility transistor structures on Si wafers
    Tong, Fei ...
    Vir: Electronics letters. - ISSN 0013-5194 (Vol. 49, no. 26, Nov. 2013, str. 1547-1548)
    Vrsta gradiva - članek, sestavni del ; neleposlovje za odrasle
    Leto - 2013
    Jezik - angleški
    COBISS.SI-ID - 4637691
    DOI
vir: Electronics letters. - ISSN 0013-5194 (Vol. 49, no. 26, Nov. 2013, str. 1547-1548)
loading ...
loading ...