-
Razvoj in uporaba opto-mehatronskega sistema za določitev reliefa majhnih predmetov = [Development and use of opto-mechatronic sistem for determination of small object relief] : ... Prešernove nagrade študentom za leto 2004 ...Ravbar, Vasja, 1979- ; Pelengić, ŽeljkoDelo obravnava razvoj nove metode merjenja majhnih površinskih sprememb na podlagi 3D optične triangulacije. Metoda oz. algoritem določitve reliefa bazira na fazni demodulaciji in FFT analizi slike s ... progastim svetlobnim vzorcem. Opravljena je podrobnejša analiza in vpliv posameznih nastavitvenih parametrov algoritma. Ker je uspešnost meritve predvsem odvisna od svetlobnega progastega vzorca smo v eksperimentalnem delu raziskali tri različne projektorje strukturirane svetlobe. Laserski projektor in diaprojektor omogočata projekcijo fiksnega svetlobnega vzorca na površino merjenca, spreminjati je mogoče le celoten vpadli svetlobni tok. Bistveno večjo fleksibilnost svetlobnega vzorca omogoča povsem nov projektor, razvit v okviru predložene naloge, ki je zasnovan na krmiljenju svetlečih diod in omogoča spreminjanje intenzitete, barve in števila črt, projiciranih na merjeno površino. Na osnovi rezultatov navedenih raziskav triangulacijskega sistema je bil zasnovan in izveden eksperiment, ki je demonstriral možnost sprotnega spremljanja obrabe površine elektrodne konice med procesom uporovnega točkovnega varjenja in je bil po podatkih iz dostopne literature sploh prvič izveden.Vrsta gradiva - knjigaZaložništvo in izdelava - Ljubljana : [V. Ravbar] : [Ž. Pelengić], 2004Jezik - slovenskiCOBISS.SI-ID - 7744283
Avtor
Ravbar, Vasja, 1979- |
Pelengić, Željko
Drugi avtorji
Diaci, Janez |
Polajnar, Ivan
Teme
optična triangulacija |
projektorji strukturirane svetlobe |
razvoj LED projektorja |
algoritem določitve reliefa |
dvodimenzionalno razvitje faze |
obdelava slik |
spremljanje obrabe elektrode pri UTV |
optical triangulation |
structured light projectors |
LED projector development |
relief determination algorithm |
two-dimensional phase unwrapping |
image processing |
monitoring electrode wear during resistance spot welding
![loading ... loading ...](themes/default/img/ajax-loading.gif)
Signatura – lokacija, inventarna št. ... |
Status izvoda | Rezervacija |
---|---|---|
K pnf RAVBAR V. Razvoj IN: 00050256 K pnf RAVBAR V. Razvoj IN: 00050256 |
prosto - za čitalnico
|
![loading ... loading ...](themes/default/img/ajax-loading.gif)
![loading ... loading ...](themes/default/img/ajax-loading.gif)
![loading ... loading ...](themes/default/img/ajax-loading.gif)
Vnos na polico
Trajna povezava
- URL:
Faktor vpliva
Dostop do baze podatkov JCR je dovoljen samo uporabnikom iz Slovenije. Vaš trenutni IP-naslov ni na seznamu dovoljenih za dostop, zato je potrebna avtentikacija z ustreznim računom AAI.
Leto | Faktor vpliva | Izdaja | Kategorija | Razvrstitev | ||||
---|---|---|---|---|---|---|---|---|
JCR | SNIP | JCR | SNIP | JCR | SNIP | JCR | SNIP |
Baze podatkov, v katerih je revija indeksirana
Ime baze podatkov | Področje | Leto |
---|
Povezave do osebnih bibliografij avtorjev | Povezave do podatkov o raziskovalcih v sistemu SICRIS |
---|---|
Ravbar, Vasja, 1979- | ![]() |
Pelengić, Željko | ![]() |
Diaci, Janez | 04107 |
Polajnar, Ivan | 02861 |
Izberite prevzemno mesto:
Prevzem gradiva po pošti
Obvestilo
Gesla v Splošnem geslovniku COBISS
Izbira mesta prevzema
Mesto prevzema | Status gradiva | Rezervacija |
---|
Prosimo, počakajte trenutek.