Narodna in univerzitetna knjižnica, Ljubljana (NUK)
Naročanje gradiva za izposojo na dom
Naročanje gradiva za izposojo v čitalnice
Naročanje kopij člankov
Urnik dostave gradiva z oznako DS v signaturi
  • Fizikalne osnove metod za analizo površin trdnih snovi in tankih plasti = Fundamentals of surface and thin film analysis
    Ambrožič, Milan
    Material surface and thin film analysis is mainly performed by using various surface spectroscopies. The differ from each other in the type particles incident and emitted from the samples, as well as ... in their energies. A generalphysical description of common spectroscopic methods is given here.
    Vir: Vakuumist : glasilo Društva za vakuumsko tehniko Slovenije. - ISSN 0351-9716 (Letn. 17, št. 4, dec. 1997, str. 15-18)
    Vrsta gradiva - članek, sestavni del
    Leto - 1997
    Jezik - slovenski
    COBISS.SI-ID - 13481511

    Povezava(-e):

    Digitalna knjižnica Slovenije - dLib.si

Vnos na polico