-
Elektronska vrstična mikroskopija pri povišanem tlaku (ESEM) = The environmental scanning electron microscopy (ESEM)Bončina, TonicaVir: Vakuumist : glasilo Društva za vakuumsko tehniko Slovenije. - ISSN 0351-9716 (Letn. 31, št. 2, jun. 2011, str. 14-19)Vrsta gradiva - članek, sestavni delLeto - 2011Jezik - slovenskiCOBISS.SI-ID - 15158294
Avtor
Bončina, Tonica
Teme
okoljski vrstični elektronski mikroskop |
sekundarni okoljski elektroni |
plinski detektor za sekundarne ione |
reducirna zaslonka |
environmental scanning electron microscopy |
secondary environmental electrons |
gaseous detector for secondary electrons |
pressure-limiting-aperture
![loading ... loading ...](themes/default/img/ajax-loading.gif)
vir: Vakuumist : glasilo Društva za vakuumsko tehniko Slovenije. - ISSN 0351-9716 (Letn. 31, št. 2, jun. 2011, str. 14-19)
![loading ... loading ...](themes/default/img/ajax-loading.gif)
![loading ... loading ...](themes/default/img/ajax-loading.gif)
![loading ... loading ...](themes/default/img/ajax-loading.gif)
Vnos na polico
Trajna povezava
- URL:
Faktor vpliva
Dostop do baze podatkov JCR je dovoljen samo uporabnikom iz Slovenije. Vaš trenutni IP-naslov ni na seznamu dovoljenih za dostop, zato je potrebna avtentikacija z ustreznim računom AAI.
Leto | Faktor vpliva | Izdaja | Kategorija | Razvrstitev | ||||
---|---|---|---|---|---|---|---|---|
JCR | SNIP | JCR | SNIP | JCR | SNIP | JCR | SNIP |
Baze podatkov, v katerih je revija indeksirana
Ime baze podatkov | Področje | Leto |
---|
Povezave do osebnih bibliografij avtorjev | Povezave do podatkov o raziskovalcih v sistemu SICRIS |
---|---|
Bončina, Tonica | 14334 |
Izberite prevzemno mesto:
Prevzem gradiva po pošti
Obvestilo
Gesla v Splošnem geslovniku COBISS
Izbira mesta prevzema
Mesto prevzema | Status gradiva | Rezervacija |
---|
Prosimo, počakajte trenutek.
Naročanje gradiva za izposojo v čitalnice
Naročanje kopij člankov
Urnik dostave gradiva z oznako DS v signaturi