Optical inspection of microsystems

(UL)

Optical inspection of microsystems

Vrsta gradiva - pregledna monografija

Založništvo in izdelava - Boca Raton : CRC/Taylor & Francis, cop. 2007

Jezik - angleški

ISBN - 0-8493-3682-1; 978-0-8493-3682-9

COBISS.SI-ID - 27891205

Zaloga
Zaloga v drugih knjižnicah

Knjižnica	Signatura – lokacija, inventarna št. ...	Status izvoda
Centralna tehniška knjižnica Univerze v Ljubljani	71855/109 Skladišče IN: 120061964	prosto - na dom, čas izposoje: 14 dni
Fakulteta za strojništvo, Ljubljana	K 621.3 OPTICAL inspect IN: 00055065	izposojeno - na dom, rok vrnitve: nedoločen

Dostop do baze podatkov JCR je dovoljen samo uporabnikom iz Slovenije. Vaš trenutni IP-naslov ni na seznamu dovoljenih za dostop, zato je potrebna avtentikacija z ustreznim računom AAI.

Leto	Faktor vpliva		Izdaja		Kategorija		Razvrstitev
Leto	JCR	SNIP	JCR	SNIP	JCR	SNIP	JCR	SNIP

Povezave do osebnih bibliografij avtorjev	Povezave do podatkov o raziskovalcih v sistemu SICRIS
Osten, Wolfgang

Vir: Osebne bibliografije in: SICRIS

Gradivo iz matične enote je brezplačno. Če je gradivo na mesto prevzema dostavljeno iz drugih enot, lahko knjižnica to storitev zaračuna.

Mesto prevzema	Status gradiva	Rezervacija

Naloži sliko

Vnos na polico

Dodajanje gradiva na polico je uspelo.

Dodajanje gradiva na polico je spodletelo.

Dodajanje gradiva na polico ni bilo potrebno.

Trajna povezava

E-pošta

Faktor vpliva

Izberite knjižnično izkaznico:

Baze podatkov, v katerih je revija indeksirana

Izberite prevzemno mesto:

Prevzem gradiva po pošti

Obvestilo

Citiranje

Gesla v Splošnem geslovniku COBISS

Izbira mesta prevzema

Rezervacija je uspela.

Rezervacija ni uspela.

Rezervacija...

Bibliografski podatki

Število izposoj

Izposoja uspešna

Izposoja ni uspela

Izposoja uspešna

Izposoja ni uspela

Izposoja uspešna

Izposoja ni uspela

Izposoja uspešna

Izposoja ni uspela

Tema