-
Electronics production defects and analysisKuttiyil Thomas, Oommen Tharakan ; Gopalan, Padma PadmanabhanVrsta gradiva - knjiga ; neleposlovje za odrasleZaložništvo in izdelava - Singapore : Springer, cop. 2022Jezik - angleškiISBN - 978-981-16-9826-2COBISS.SI-ID - 172965379
Avtor
Kuttiyil Thomas, Oommen Tharakan |
Gopalan, Padma Padmanabhan
Zbirka
Springer tracts in electrical and electronics engineering
Teme
Electronic circuits |
Electronics |
Electric power production |
Industrial engineering |
Production engineering |
elektrotehnika |
elektronika |
analiza napak |
spajkanje |
tiskana vezja |
komponente |
konstrukcijske napake |
montaža |
okvare |
vzroki |
odpravljanje napak |
proizvodnja |
nadzor kakovosti |
primeri
Knjižnica/institucija |
Kraj | Akronim | Za izposojo | Druga zaloga |
---|---|---|---|---|
Centralna tehniška knjižnica Univerze v Ljubljani | Ljubljana | CTK |
na dom 1 izv.
|
Vnos na polico
Trajna povezava
- URL:
Faktor vpliva
Dostop do baze podatkov JCR je dovoljen samo uporabnikom iz Slovenije. Vaš trenutni IP-naslov ni na seznamu dovoljenih za dostop, zato je potrebna avtentikacija z ustreznim računom AAI.
Leto | Faktor vpliva | Izdaja | Kategorija | Razvrstitev | ||||
---|---|---|---|---|---|---|---|---|
JCR | SNIP | JCR | SNIP | JCR | SNIP | JCR | SNIP |
Baze podatkov, v katerih je revija indeksirana
Ime baze podatkov | Področje | Leto |
---|
Povezave do osebnih bibliografij avtorjev | Povezave do podatkov o raziskovalcih v sistemu SICRIS |
---|---|
Kuttiyil Thomas, Oommen Tharakan | |
Gopalan, Padma Padmanabhan |
Izberite prevzemno mesto:
Prevzem gradiva po pošti
Obvestilo
Gesla v Splošnem geslovniku COBISS
Izbira mesta prevzema
Mesto prevzema | Status gradiva | Rezervacija |
---|
Prosimo, počakajte trenutek.