-
Failure analysis : high technology devicesSullivan, Daniel J. D. ; Carleton, Eric J.Vrsta gradiva - knjiga ; neleposlovje za odrasleZaložništvo in izdelava - Boston ; Berlin : De Gruyter, cop. 2022Jezik - angleškiISBN - 978-1-5015-2478-3COBISS.SI-ID - 147965443
Avtor
Sullivan, Daniel J. D. |
Carleton, Eric J.
Teme
Failure analysis (Engineering) |
System failures (Engineering) |
High technology |
elektrotehnika |
visoke tehnologije |
analize napak |
analitične tehnike |
testiranja |
optična mikroskopija |
akustična mikroskopija |
rentgensko slikanje |
reflektometrija |
elektronska mikroskopija |
materiali |
naprave
![loading ... loading ...](themes/default/img/ajax-loading.gif)
Knjižnica | Signatura – lokacija, inventarna št. ... | Status izvoda |
---|---|---|
Centralna tehniška knjižnica Univerze v Ljubljani | ELE-C 245289 Prosti pristop IN: 120230262 |
prosto - na dom, čas izposoje: 14 dni |
![loading ... loading ...](themes/default/img/ajax-loading.gif)
![loading ... loading ...](themes/default/img/ajax-loading.gif)
![loading ... loading ...](themes/default/img/ajax-loading.gif)
Vnos na polico
Trajna povezava
- URL:
Faktor vpliva
Dostop do baze podatkov JCR je dovoljen samo uporabnikom iz Slovenije. Vaš trenutni IP-naslov ni na seznamu dovoljenih za dostop, zato je potrebna avtentikacija z ustreznim računom AAI.
Leto | Faktor vpliva | Izdaja | Kategorija | Razvrstitev | ||||
---|---|---|---|---|---|---|---|---|
JCR | SNIP | JCR | SNIP | JCR | SNIP | JCR | SNIP |
Baze podatkov, v katerih je revija indeksirana
Ime baze podatkov | Področje | Leto |
---|
Povezave do osebnih bibliografij avtorjev | Povezave do podatkov o raziskovalcih v sistemu SICRIS |
---|---|
Sullivan, Daniel J. D. | ![]() |
Carleton, Eric J. | ![]() |
Izberite prevzemno mesto:
Prevzem gradiva po pošti
Obvestilo
Gesla v Splošnem geslovniku COBISS
Izbira mesta prevzema
Mesto prevzema | Status gradiva | Rezervacija |
---|
Prosimo, počakajte trenutek.