-
Fault detection and diagnosis in industrial systemsChiang, Leo H., 1975- ; Russell, Evan L., 1972- ; Braatz, Richard D., 1966-Vrsta gradiva - učbenikZaložništvo in izdelava - London [etc.] : Springer, cop. 2001Jezik - angleškiISBN - 1-85233-327-8COBISS.SI-ID - 23945221
Avtor
Chiang, Leo H., 1975- |
Russell, Evan L., 1972- |
Braatz, Richard D., 1966-
Teme
Chemical process control |
Fault location (Engineering) |
informatika |
industrijska proizvodnja |
kemijska tehnika |
kontrola procesov |
krmilni sistemi |
lokalizacija napak |
statistične metode |
aplikacije |
študije primerov |
analizne metode |
ekspertni sistemi |
razpoznavanje vzorcev |
fuzzy sistemi |
učbeniki
![loading ... loading ...](themes/default/img/ajax-loading.gif)
Knjižnica | Signatura – lokacija, inventarna št. ... | Status izvoda |
---|---|---|
Centralna tehniška knjižnica Univerze v Ljubljani | 218072 Skladišče IN: 120020704 |
prosto - na dom, čas izposoje: 14 dni |
![loading ... loading ...](themes/default/img/ajax-loading.gif)
![loading ... loading ...](themes/default/img/ajax-loading.gif)
![loading ... loading ...](themes/default/img/ajax-loading.gif)
Vnos na polico
Trajna povezava
- URL:
Faktor vpliva
Dostop do baze podatkov JCR je dovoljen samo uporabnikom iz Slovenije. Vaš trenutni IP-naslov ni na seznamu dovoljenih za dostop, zato je potrebna avtentikacija z ustreznim računom AAI.
Leto | Faktor vpliva | Izdaja | Kategorija | Razvrstitev | ||||
---|---|---|---|---|---|---|---|---|
JCR | SNIP | JCR | SNIP | JCR | SNIP | JCR | SNIP |
Baze podatkov, v katerih je revija indeksirana
Ime baze podatkov | Področje | Leto |
---|
Povezave do osebnih bibliografij avtorjev | Povezave do podatkov o raziskovalcih v sistemu SICRIS |
---|
Izberite prevzemno mesto:
Prevzem gradiva po pošti
Obvestilo
Gesla v Splošnem geslovniku COBISS
Izbira mesta prevzema
Mesto prevzema | Status gradiva | Rezervacija |
---|
Prosimo, počakajte trenutek.