DIKUL - logo
E-viri
Celotno besedilo
Recenzirano
  • Rare K 40 Decay with Implic...
    Stukel, M.; Hariasz, L.; Di Stefano, P. C. F.; Rasco, B. C.; Rykaczewski, K. P.; Brewer, N. T.; Stracener, D. W.; Liu, Y.; Gai, Z.; Rouleau, C.; Carter, J.; Kostensalo, J.; Suhonen, J.; Davis, H.; Lukosi, E. D.; Goetz, K. C.; Grzywacz, R. K.; Mancuso, M.; Petricca, F.; Fijałkowska, A.; Wolińska-Cichocka, M.; Ninkovic, J.; Lechner, P.; Ickert, R. B.; Morgan, L. E.; Renne, P. R.; Yavin, I.

    Physical review letters, 08/2023, Letnik: 131, Številka: 5
    Journal Article