-
Študij napršenih tankih plasti platine na polimerno podlago = Study of Pt thin films sputtered on polymer substratePožun, Karol ...Tanki plasti plantine smo napršili na polimerno podlago kot aktivni elektrodni plasti kapacitivnega senzorja relativne vlažnosti zraka. Odlične električne lastnosti tanke plasti platine in velika ... korozijska odpornost kot najpomembnejši lasstnosti sta nas vodili k podrobnejši analizi morfoloških lastnosti platinskih plasti. Nanašali smo jih pri različnih naprševalnih pogojih, analizo pa smo usmerili na njihove morfološke strukturne lastnosti. Na elektronskem presevnem mikroskopu (TEM) smo analizirali strukturne lastnosti platinskih plasti, napršenih na polimerno podlago in monokristalno podlago KCl. Topografijo površine platinskih plasti in povprečno velikost otočkov v teh plasteh smo določili z mikroskopijo na atomsko silo (AFM). Na polimerno podlago smo napršili plasti platine debeline 10 in 20 nm. To smo naredili pri sobni temperaturi in študirali vpliv na spremembo morfoloških lastnosti. Z naprševanjem plasti platine na polimerno podlago pri sobni temperaturi smo dobili pri debelini 10 nm nezvezno plast z razpokami. 20 nm debele plasti, napršene pri sobni temperaturi polimera, pa imajo zvezno plast brez razpok.Source: Kovine zlitine tehnologije = Metals alloys technologies. - ISSN 1318-0010 (Letn. 33, št. 1/2, 1999, str. 165-170)Type of material - article, component partPublish date - 1999Language - slovenianCOBISS.SI-ID - 143018
Author
Požun, Karol |
Koller, Lidija |
Irmančnik-Belič, Lidija |
Remškar, Maja, 1960- |
Praček, Borut |
Aljančič, Uroš
Topics
naprševanje Pt |
polimerna podlaga |
AES |
TEM |
AFM |
analiza strukture kovina-polimer |
vpliv frekvence na električne karakteristike strukture |
sputtering of Pt thin films |
polymer substrate |
AES |
TEM |
AFM |
analyses of metal-polymer structure |
influence of frequency on some electrical parameters of structure
![loading ... loading ...](themes/default/img/ajax-loading.gif)
source: Kovine zlitine tehnologije = Metals alloys technologies. - ISSN 1318-0010 (Letn. 33, št. 1/2, 1999, str. 165-170)
![loading ... loading ...](themes/default/img/ajax-loading.gif)
![loading ... loading ...](themes/default/img/ajax-loading.gif)
![loading ... loading ...](themes/default/img/ajax-loading.gif)
Shelf entry
Permalink
- URL:
Impact factor
Access to the JCR database is permitted only to users from Slovenia. Your current IP address is not on the list of IP addresses with access permission, and authentication with the relevant AAI accout is required.
Year | Impact factor | Edition | Category | Classification | ||||
---|---|---|---|---|---|---|---|---|
JCR | SNIP | JCR | SNIP | JCR | SNIP | JCR | SNIP |
Select the library membership card:
DRS, in which the journal is indexed
Database name | Field | Year |
---|
Links to authors' personal bibliographies | Links to information on researchers in the SICRIS system |
---|---|
Požun, Karol | 09619 |
Koller, Lidija | 01703 |
Irmančnik-Belič, Lidija | 09846 |
Remškar, Maja, 1960- | 07560 |
Praček, Borut | 09105 |
Aljančič, Uroš | 11682 |
Select pickup location:
Material pickup by post
Notification
Subject headings in COBISS General List of Subject Headings
Select pickup location
Pickup location | Material status | Reservation |
---|
Please wait a moment.